曲晓燕 吕晓峰 李小晨

（1.海军航空工程学院兵器科学与技术系 烟台 264001）（2.徐州空军学院航空弹药系 徐州 221000）

1 引言

一般而言，电子设备的可靠度与其通电时间是密切相关的，大量的历史统计数据表明，大部分电子设备的“通电时间寿命”均服从指数分布［1～2］，因此可以将机载电子设备通电时间寿命的分布当作指数分布处理，即：

f（t）＝λexp（－λt），t＞0，0＜λ＜＋∞ （1）其中λ为失效率。对于样本量较大，并且寿命试验过程中出现失效样本的情形，寿命分布模型及参数估计的相关理论已经比较成熟。可靠度方面的相关理论已经有较为成熟的处理方法［3～4］。但随着机载电子设备可靠性的提高，经常会出现寿命试验过程中没有失效样本的情况，但这并不意味着设备的可靠度为1，需要在一定置信度水平下合理评估设备的可靠性水平，此时的处理方法与传统方法有较大的差异［5～6］。当已经确定产品寿命服从指数分布时，传统的可靠性理论通常根据样本失效时间及数量，对失效率作极大似然估计，进而估计产品的可靠度；对于无失效数据时的情况，本文提出了一种基于失效率上限已知的Bayes产品可靠度估计方法。

2 失效率相关信息未知时的处理方法

对于寿命服从指数分布的产品，当进行定时截尾寿命试验未出现失效样品时，在1－α置信水平下，其最优可靠度置信下限为［7］

这里将某型机载电子设备出现不可修复故障定义为失效。在监控使用的条件下，n部该型电子设备经过一定的通电时间后均未出现不可修复故障。……