爱德万测试推出多项新品助力低成本高产能的电子制造

全球领先半导体测试设备供应商爱德万测试集团已成功推出多项新产品，旨在满足目前电子产品种类的不断扩展，助力于低成本、高产能的制造。爱德万集团近期全新推出“T2000ISS图像传感器测试 (Image Sensor test Solution)CMOS 3GICAP”、“T20008Gbps”及“T2000IMS测试系统”,详情如下。

T2000ISS 3Gbps CMOS图像采集模块（3GICAP）

爱德万测试的3GICAP与T2000ISS测试平台完全兼容，具有业界最高的图像采集速度，包括3Gbps的嵌入式计时协议和1.5Gbps的源同步协议，可对多达64个D-PHY和M-PHY接口芯片进行高效率并行测试，正是这一类芯片带动了目前图像传感器市场的增长。

大规模并行测试

单个T2000ISS平台可承载16个3GICAP模块，可对64个器件进行并行测试，为用户提供了灵活的多器件同步测试方案。

高速性能

3Gbps高速图像采集率可以支持当前业界最高速的嵌入式时钟数据传输协议（如M IPI M-PHY）。系统采取双内存结构，单个内存空间为512兆像素。这种设计可在图像处理单元中实现同步数据采集和数据传输，以缩短测试时间。

提高性能，降低成本

T2000ISS平台的模块架构及优化的配置可在各类CMOS图像传感器上实现低成本测试，包括手机、数码相机、数码单反相机、CAM及其他工业设备。此外，集成式单引脚参数测量单元（inte-

grated per-pin parametric measurement unit）可进行

直流参数测量而无需额外的硬件支持。

可用于各类生产及设计环境

该模块不仅可以借助高速测试性能以促进大规模量产外，还可以缩短对芯片最初设计方案的验证周期。这样制造商就可以在其集成电路设计方案中自行添加回路，而且不会影响并行测试的灵活性或测试成本。……