潘新祥

（中国人民解放军海军驻连云港七一六所军事代表室 连云港 222006）

1 引言

可靠性试验技术从诞生至今可归结为模拟试验和激发试验两大类［1］。模拟试验通过对产品进行使用环境模拟来检验或鉴定产品的可靠性程度，如我国的GJB899A、GJB1407等标准均是采用模拟试验方法的标准，由于采用的是基于环境真实性模拟的试验方法，因此存在试验周期长、效率低、耗费大的缺点，此外，完全真实地模拟产品的使用环境往往存在诸多困难，以至于在实际工程中难以准确实现，导致试验结果与产品的实际使用情况不符。为有效解决模拟试验存在的问题，上世纪80年代后期，可靠性试验技术领域形成了一项以环境应力筛选为代表的新分支，即激发试验技术，它不以环境的真实性模拟为目标，而是通过强化环境来进行试验，以提高试验效率、降低消耗。

随着科学技术的发展，现代电子设备复杂程度越来越高，更新换代的步伐也越来越快，再加上高可靠性高寿命电子产品的不断出现，主要针对生产工艺缺陷的这一类激发试验技术已经赶不上现代电子设备发展的步伐。20世纪80年代，美国G.K.Hobbs博士提出了高加速寿命试验（Highly accelerated life test，HALT）和高加速应力筛选HASS（Highly Accelerated stress screen，HASS），前者用于产品的设计阶段，目的是快速暴露产品的设计缺陷，以便及时改进设计，提高产品的固有可靠性；后者用于产品的生产阶段，目的是快速暴露产品在生产过程中的各种制造缺陷，为用户提供高可靠性的产品［1］。……