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LCD显示缺陷检测装备中的形状配准新方法

2012-01-18叶玉堂刘娟秀

电子设计工程 2012年24期
关键词:区域检测

叶 涵,叶玉堂,刘 霖,刘娟秀,罗 颖

(电子科技大学 光电信息学院 现代光电测控及仪器实验室,四川 成都 610054)

近年来TFT-LCD技术发展取得长足进步,液晶显示器功耗低、寿命长、画质好、可靠性高等优势愈发凸显,在家电、仪器仪表的显示等各个领域都有广泛的应用[1]。然而LCD制备工艺繁复,对环境要求极高,容易产生缺划、多划、白点、黑点、PI不均等常见显示缺陷,生产过程中的缺陷检测变得越来越重要。目前国内液晶生产厂家大多采用人工肉眼检测的方法,带有极大的主观性和偶然性,漏检误检率高且难以形成行业统一的检测标准,制约着液晶行业的发展[2]。

以机器视觉作为标准技术的自动光学检测研究主要集中于对 LCD的Mura缺陷进行检测[3],而对由驱动程序控制呈现的LCD的显示缺陷自动光学检测在国内外鲜有报道。为此,文中提出了一种基于特征点形状匹配的LCD显示缺陷自动光学检测方法。该方法的主要思路是图像配准和与标准模板作差进行缺陷检测[4]。图像匹配是文中算法的核心,传统的基于像素灰度值进行模版匹配的方法受像素取值影响较大,对光照一致性有较高要求,不适宜LCD显示缺陷检测条件[5]。文中采用基于特征点的形状匹配方法,在指定的搜索区域寻找待测LCD与模版具有相同形状特征和位置关系的定位标志,首先利用边缘提取的方法获得模版图像和待测图像边缘信息,并计算边缘各点的方向向量,然后用特定的相似度量进行图像匹配,最后通过最小二乘法调整位置参数来达到亚像素精度。……

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