吴翠红（通信作者），郝 芯

（长春电子科技学院 吉林 长春 130000）

0 引言

机械密封是化工生产中的重要部分[1]，其可使用相关的压缩设备和转动设备完成密封，防止流体泄露。常见的机械密封膜属于一种特殊的流体膜，一旦密封装置发生高速运转，很容易产生较高的离心力，导致密封膜损伤，引发流体泄漏，因此在密封的过程中需要实时对密封膜的厚度进行检测，并及时处理产生的密封膜厚度变化问题[2-3]。常规的化工机械密封膜厚检测方法往往使用小波变换（wavelet transform，WT）法进行厚度检测[4]，经常受小波信号的影响出现较高的检测干扰，检测的厚度不准确，而近红外技术可根据密封膜的电磁波变化进行定量分析，实现高精度密封膜厚检测[5]。因此本文基于近红外技术，设计了一种新的化工机械密封膜检测方法，为后续的化工机械生产做出了一定的贡献。

1 化工机械密封膜厚近红外检测方法设计

1.1 基于近红外技术处理化工机械密封膜厚度信号

本文基于近红外技术进行了定量分析，通过关联校正完成机械密封膜厚度信号的处理[6]。使用近红外探测装置获取机械密封膜信号，确定此时的信号特征量，并进行门限检测确定密封膜的信号输出量，降低外界环境对机械密封膜厚度检测造成的影响[7-8]。在较复杂的化工机械环境下，密封膜的厚度变化具有一定的规律[9]，因此本文结合近红外探测原则设计了密封膜变化规律方程Δt，其公式可表示为：

式中：t为流体密封膜检测时间；……