黄春霞

(厦门理工学院 光电与通信工程学院，福建 厦门 361024)

0 引言

边缘是图像最基本的特征之一，测量系统中的参数测量是通过处理被测物体图像的边缘而获得物体的几何参数的过程，被测零件的边缘定位精度直接影响最终的测量结果。因此，边缘检测技术是参数测量的基础和关键。边缘检测技术从接触式发展到非接触式测量。接触式测量主要利用一些机械量仪，直接接触工件边缘表面进行检测；而非接触式测量主要利用光学测量仪，进行扫描或者投影工件边缘进行检测，后者具有无损伤、精度高、检测速度快等优点，因此应用越来越广泛。非接触式边缘检测技术常见的有投影成像检测法、激光反射检测法、激光遮断检测法[1-4]。

对于要检测工件径向距离的场景，当工件边缘不平整时，用激光反射检测法误差会比较大，而用激光遮断检测法视场范围又太小，综合考虑，采用电荷耦合器件(CCD)投影成像检测法效果会好的多，该方法适用于超薄工件的边缘检测，在工业中应用广泛。其核心检测部件是CCD图像采集传感器，配以光源进行工作，光源于CCD传感器上方安装，被测工件放在光路中间，工件遮挡光路的部分会在CCD成像单元上形成阴影。投影成像检测法不能直接获取工件边缘点的坐标，而且要对采集的图像配以一定的图像处理算法进行处理，以此找到工件边缘点的像素坐标。而CCD器件又分有面阵CCD和线阵CCD两种，因此投影成像检测法分别对应面阵CCD投影成像检测法和线阵CCD投影成像检测法。……