鲁 昊， 付宛璐， 柴 珺， 刘 爽， 孙作玉

1. 北京师范大学历史学院， 北京 100875

2. 北京大学地球与空间科学学院， 北京 100871

3. 现代古生物学和地层学国家重点实验室(中国科学院南京地质古生物研究所)， 江苏 南京 210008

4. 北京自然博物馆， 北京 100050

引 言

X荧光光谱分析技术是定性和定量地进行物质化学元素测定的有效方法之一。 手持式X荧光光谱仪以其操作简单、 快速无损、 检测元素范围广泛等优势， 已在化学、 生物、 环境等领域快速推广， 而在考古学领域中， 仅在壁画颜料分析中进行了较广泛的应用[1-2]。 对以岩石为材料的石质文物的研究和保护中， 风化是最核心的问题之一， 取决于岩石类型和岩石组分[3]， 需采取地质学的研究方法和手段。 对石质文物的风化程度、 风化速度的监测和预警， 应针对不同石质文物的岩石特点， 采用不同的监测指标。 以石窟为代表的石质文物多具有大型、 不可移动、 不可有损检测的特点， 同时， 石窟赋存岩体表面多被保护性建筑、 植被等遮挡或覆盖， 难以进行传统的岩石组分和岩层划分对比研究[4]， 因此目前针对石质本体的系统性检测和分析相对不足。 手持式XRF设备能够满足快速、 原位、 无损地进行石质文物本体的高精度组分检测， 可以在石质文物研究中发挥重要作用。

1 实验部分

1.1 方法

(1)对乐山大佛博物馆档案室存储的岩心和野外踏勘采集的新岩石样品进行岩石薄片的切磨， 在偏光显微镜下进行矿物组分的鉴定。

(2)XRF检测采用德国布鲁克公司Bruker S1 TITAN 手持式X荧光光谱仪， 选取General模式， 能量分辨率145 eV， 靶电流200 μA， 靶电压50 kV。……