杨 燕

(贵州理工学院工程训练中心，贵州 贵阳 550003)

0 引言

随着IC 行业和制造工艺的发展，芯片集成度越来越高。 现在，数以亿计的晶体管可以被集成在一块芯片上，这大大增加了IC 设计的难度和周期，导致IC 设计公司投入的资金剧增，而且由于制造工业的改进也需要IC 设计公司投入巨额的资金，所以越来越多的IC 公司由于难以承受资金上的压力而选择将芯片制造外包给专门生产芯片的公司。 IC 行业逐渐由以前的自己设计自己制造模式变成IC 设计和制造分离的商业模式，商业模式的转变减轻了IC 设计公司的资金压力，但是同时也带来了很多问题，比如芯片版权和安全问题。 IC 计量技术是指一种机制、方法和协议，使设计人员能够控制芯片的后端制造，计数生产的芯片数量并防止芯片盗版和过度制造。 根据实现方案，现有的IC 计量技术可以分为主动式计量技术和被动式计量技术。

1 被动式的IC 计量技术

如图1 所示，被动式的IC 计量可以分为几个类型。 根据其是否与功能相关，可以分为被动式非功能计量和被动式功能计量技术。

1.1 被动式非功能计量技术

被动式非功能IC 计量技术已经使用了很多年。 该技术通常通过在每个芯片上雕刻唯一ID或将ID 存储在非易失性存储器中来实现。 众所周知，英特尔奔腾III 处理器包含唯一的序列号[1]。 但是，通过这两种方法生成的芯片ID 可以很容易地被攻击者删除或复制。 此外，这两种方法不能防止代工厂制造过多的芯片，因为它们可以轻松地将相同的ID 复制或写入相同的ID到过度制造的芯片上。……