基于正交试验的液晶屏老化炉优化设计
2021-12-22孙家圆倪俊芳杨波
机械工程师 2021年12期
关键词:优化
孙家圆, 倪俊芳, 杨波
(1.苏州大学机电工程学院,江苏苏州 215021;2.苏州优备精密智能装备股份有限公司,江苏苏州 215021)
0 引言
液晶屏老化测试是在短时间内对液晶屏进行高温烘烤,使其快速渡过失效期,并将其存在的潜在缺陷暴露出来,进入性能平稳阶段的测试方法。随着科技的发展和生活需要,液晶屏的需求变得越来越大,企业之间竞争也愈发激烈,液晶屏的品种和加工工艺也日趋复杂,其存在缺陷的概率也随之增大[1],因此新液晶屏需要经过老化测试以保证品质。老化测试受多个因素影响,主要有热源功率、液晶屏尺寸、风机个数、风机风速等,目前主要根据经验通过试错法进行反复试验来获得更好的老化环境。但仍存在热流场分布不均匀、达到热平衡后温度波动范围大的问题。本文基于液晶屏老化炉对流传热理论模型,对老化炉体进行设计建模,并进行数值模拟,分析其内部热流场分布,通过正交试验找出其主要影响因素,并对其进行优化。
1 老化炉结构及液晶屏参数
液晶屏老化炉由2个子老化炉组合而成,其整体尺寸为4280 mm×1560 mm×3129 mm。子老化炉中利用2块隔板将老化炉分隔为加热系统部分、承重部分及电控系统部分。老化炉内放置了紫铜材质的加热器、环氧树脂材质的隔热板及铝合金制的承重杆,并在炉体外部上方放置了2台离心风机。老化炉正面是由多条铝制盖板组成,与每层承重杆的位置一一对应,通过电控系统控制其自动开合,使用三轴运动叉爪将液晶屏运送至炉内[2]。……
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