张瑞卿，蒋义然，禹 江，刘梦怡，康国政

（保定理工学院 河北 保定 071000）

1 引言

传统配电网处于一次设备与二次设备独立生产、配合运行的阶段，这样的运行方式导致一次二次设备功能割裂，配网产生故障责任难以界定，容易产生厂家之间相互推诿的问题。为了解决此类问题的发生，国家电网公司提出配网的一二次融合技术并进行推广应用。两者的快速融合一方面提高了配网的自动化发展进程，另一方面对二次设备FTU的稳定运行提出更高要求。

一次开关设备长期运行在户外，大多高压器件对于温度反应灵敏度不高，温度对于开关的性能作用基本没影响。但伴随着一二次融合的加速，二次设备FTU需长时间在高压侧开关旁工作，对电子元器件的工作性能提出更为严格的要求。温度对FTU内部电子器件造成温漂、功耗增大等不利影响[1]。针对传统配电网二次设备的精度、遥信抖动等问题，本文提出温度补偿技术，通过对二次设备进行温度的性能实验，并对实验结果进行分析计算，从而满足国家电网对于配电终端FTU要求的检测指标。

2 温度对电子元器件的影响

对于电子产品而言，温度是影响其内部元器件性能的最为重要的因素。温度主要对电子元件中的电容和半导体器件产生作用来影响相关产品的性能[2]。当电子元器件处于不同的温度环境中，会影响对应的产品输出电压。温度因素之所以能对电子元件产生较大影响，主要与元件的制作材料有关。……