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薄厚度有机防护涂层的太赫兹无损检测与多元回归分析

2021-12-09涂婉丽钟舜聪罗曼婷徐轶群

测控技术 2021年11期
关键词:信号分析检测

涂婉丽, 钟舜聪, 罗曼婷, 徐轶群

(1.集美大学 轮机工程学院,福建 厦门 361021; 2.福建省船舶与海洋工程重点实验室,福建 厦门 361021;3.福州大学 机械工程及自动化学院,福建 福州 350108)

有机涂层的厚度对防护涂层性能有很大影响,间接对材料利用率和装备结构寿命起到重要作用,是涂层涂装过程中涂层质量监控与质量评价的一个关键参数[1]。近年来,研究人员采用脉冲太赫兹波成像技术(Terahertz Pulsed Imaging,TPI)开展多个领域的检测研究并推广应用[2-3]。而太赫兹对防护有机涂层的无损检测分析研究表明该检测方法具有广阔前景[4]。脉冲太赫兹波能够得到多层介质结构的层析图像,适合于检测涂层局部缺陷引起的介质结构变化;其能够检测分辨厚度在几十微米至几百微米量级的介质,适合工业中大部分覆有有机涂层的金属结构件;太赫兹成像系统检测信噪比较高,检测信息量大,能实现远距离探测;可以从时域信号及傅里叶变换频谱中选择任意一个数据点的振幅或相位进行成像和样品重构,能更好地表征含缺陷涂层结构的状态[5]。笔者之前已对脉冲太赫兹波检测有机防护涂层进行了数值模拟分析和实验研究,并提供了检测涂层厚度和缺陷的方法[6-7]。目前涂层喷涂过程中的在线监控还存在检测精度的问题,即喷涂前期薄厚度涂层的检测分辨。

相干长度与有效带宽和样品折射率的关系[8]为

Lc=c/(2nBW)

(1)

式中,Lc为相干长度;c为真空中的光速;n为样品折射率;BW为入射波的有效带宽。……

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