贾文宝，唐馨如，张新磊，邵金发，熊根超，凌永生，黑大千，单 卿*

1. 南京航空航天大学材料科学与技术学院，核科学与技术系，江苏 南京 211106 2. 北京师范大学核科学与技术学院，射线束技术教育部重点实验室，北京 100875 3. 兰州大学核科学与技术学院，甘肃 兰州 730000

引 言

全反射X射线荧光(TXRF)是能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)的一种变体，由于其区别于XRF的几何结构，当入射射线以小于全反射临界角的角度入射时，入射射线被全部反射，使得在μg·kg-1和μg·L-1水平下具有更高的灵敏度和更高的检测限[1]。全反射X射线荧光光谱分析技术是一种功能强大的分析工具，可直接分析固体、液体、粉末等各种各样的样品，测量时间短且所需的样品量很少(几μL或ng样品)，操作流程简便快捷、有较好的准确性，经济环保。由于TXRF的优秀检测能力，其越来越多的被运用于不同的科学领域去检测各种各样的样品，在国内外各个领域都有着广泛应用，以解决常规或是更为复杂的分析问题，例如环境领域[2]、地质土壤研究领域[3]、食品安全[4-5]、生物研究[6]等等方面。

近年来，TXRF可作为一种分析植物性食品元素组成技术引起了人们的兴趣[1, 5]，而对样品进行准确定量的前提则是一种能够保证样品均匀性与重复性的制样方法。与电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)，原子发射光谱法(AES)，火焰原子吸收光谱法(FAAS)等的光谱技术一样，待测原样很少能够直接进行分析，在应用TXRF分析样品之前也需要将样品进行预处理，在针对植物样品常规元素测定的过程中，有两种常用的制样方法——消解法与悬浮法。……