一种高低温频率自动测试系统的设计与实现
2021-12-02彭佳丽仲海东王炯翊
电子与封装 2021年11期
彭佳丽,仲海东,王炯翊
(无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072)
1 引言
随着制造技术和集成电路的发展,目前的芯片中已有振荡器集成。由于构成振荡器的MOS器件和电阻都极易随着电压和温度产生一定的变化,在不同的电压和温度下会导致芯片频率偏差。在使用芯片进行方案开发时对其频率精度有要求,因此在进行芯片可靠性评估时需要在不同的电压和温度条件下对频率进行全面评测。
本文介绍了一种基于STM32F107的高低温频率自动测试系统,能够通过上位机配置所需的电压条件和温度条件,配合高低温箱和等精度频率测试方法,在不同的温度和电压测试条件下实现芯片的频率测试。该自动测试系统对比人工测试具有高精度、高效率、低误差等优势,并且大大增加了样本容量,减少了测试成本。
2 方案设计
选择STM32F107作为主控电路,搭配供电模块、温度检测模块、主控与待测电路接口模块、主控与上位机通信模块、DPS模块和待测MCU模块共同构成硬件部分。软件部分则选用面向对象的计算机编程语言C++语言开发。高低温频率自动测试系统通过上位机进行电压和温度参数配置,上位机与硬件系统利用串口进行数据传输,将设置好的参数值发送到硬件系统进行处理。在整个过程中,待测电路和温度检测模块需放在高低温测试箱中,通过温度检测模块进行温度测试,电源选择模块进行电压控制,实现不同温度和不同电压下的频率测试。……
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