肖国龙，龚正平，武 果

（中科院广州电子技术有限公司，广州 510070）

0 引言

多层片式陶瓷电容有很多尺寸规格，如：0201、0402、0603、0805、1612 等规格，容量从0.5 pF～10 μF，甚至更大。所用材料的不同导致电容的不同特性和不同的用途［1－2］，如高频电容、低频电容、高压电容、低压电容等。不同的SMD电容测试内容（四参数：耐压、绝缘、容量、损耗）和测试方法基本上相似，特殊用途的高频高Q电容测试除外。

早期的SMD电容测试分拣基本上以单轨（单通道）测试为主，以日本Humo 四参数测试机、美国Paloma 测试机为主导。自从美国ESI公司推出了6 轨四参数电容测试分选设备［3－4］后，台湾、日本的相关企业也先后推出了多轨测试设备。国内尚无其他自主研发的同类测试设备。

多轨测试在单轨测试架构的基础上，增加了多圈同步测试和分选，其效率成倍提高。因此，研发该类产品，意义重大。从控制电路、可编程电源和测试仪器的通道数和测试效率角度出发，设备多数选择的轨道数有2 轨、4 轨、6 轨和8轨。

目前国内这类设备基本上依赖进口，尚无自主研发的同类产品。自主研发该类设备在逐步抢占市场的同时，也可以压低进口设备的价格。

1 设备功能介绍

1.1 电容四参数

电容四参数分别为：耐压、绝缘、容量、损耗。耐压［5］和绝缘均为漏电流测试即额定电压下的漏电流值，或者换算成绝缘电阻（R＝V／ I）［6］。电容两端加测试电压，满电后的电流即为电容的漏电流。容量与损耗［7］则对应为电容的容量值和损耗因子，很多参考文献和网络上均有相关资料，本文不作介绍。……