乔兴旺 陶成忠 王春艳

（中国电子科技集团公司第三十八研究所 安徽省合肥市 230088）

1 引言

随着相控阵天线技术的发展，相控阵系统的规模越来越大，各种模式和功能越来越复杂，有源通道数量越来越多，一部相控阵雷达的有源通道数量会达到成百上千，每个有源通道都有收/发态的控制，以及衰减码值和移相码值的控制，需要控制的数据量大，如何快速测试提高效率，是产品研制过程中的关键问题。

一般在进行暗室近场测试过程中，往往需要很长的时间进行调试，即占用宝贵的暗室资源，又浪费人力物力，有时暗室的测试进度甚至成为制约交付进度的关键点[1～3]。本文针对暗室测试系统，设计一种多频点、多波束测试系统，从硬件接口和软件接口进行设计，给出测试过程中的关键控制点和工作流程，从而快速实现系统的搭建，提高暗室测试效率。

2 测试系统原理与组成

相控阵天线的性能测试，一般在暗室环境下使用平面近场测试系统进行，通过与天线频率相同的已知射频特性探头，在距离被测天线3～10个波长的平面，按照一定的规律进行运动，通过测试天线在已知平面内的幅度、相位特性，再经过数学计算变换得出天线的远场方向图，从而获得相控阵天线的性能[4～6]。

近场性能测试时，射频探头按照一定的运行轨迹进行采样，在进行采样时近场测试设备会送出时序控制信号，相控阵天线严格按照时序信号进行射频收发控制，实现对天线的近场测试。……