崔志同，魏 兵，吴 伟，孙蓓云

(1.西北核技术研究所 强脉冲辐射模拟与效应国家重点实验室，陕西 西安 710024；2.西安电子科技大学 物理与光电工程学院，陕西 西安 710071)

自然或人为(雷电、开关操作、高空核爆等)产生的强电磁脉冲可在电子设备的连接电缆上耦合强瞬态电磁干扰，进而影响电子设备的正常工作，甚至导致其损伤失效[1]。为评估电子设备的强电磁脉冲易损性，通常采用电磁场辐照或者传导试验的方法[2]。其中，感性脉冲电流注入(Pulsed Current Injection，PCI)是一种常用的传导试验方法，是GJB151B和GJB8848—2016等标准推荐的测试方法。感性脉冲电流注入基于磁芯变压器的能量耦合原理，可在不破坏被试对象连接线缆物理结构的情况下，在设备端口施加强瞬态电流信号以考核其抗电磁干扰能力。另外，该方法还具有成本低、操作便利、可在设备研制早期介入等优点，因此在电子设备强瞬态电磁效应研究中得到了广泛应用[3]。

为深入理解感性脉冲电流注入的物理过程，量化分析脉冲电流注入试验平台中各参数变化的影响，文献[3-5]开展了感性脉冲电流注入的电路建模分析工作，并在此基础上给出了一种实现注入与辐照等效的工程实现方法。但这些工作主要针对非屏蔽线缆，而未涉及在实际设备中广泛应用的屏蔽电缆。因此文中拟以同轴电缆为例，开展针对屏蔽电缆的感性脉冲电流注入仿真研究工作。

目前在电磁兼容领域的电流注入(Bulk Current Injection，BCI)研究工作中，考虑了被试线缆为屏蔽电缆的建模仿真问题[6-8]，如文献[6]在已知电缆屏蔽层注入点处电流的情况下，给出了屏蔽层与芯线间耦合的Spice电路模型，用于仿真芯线电流。……