梁添汾，张南峰，2，张艳喜，袁金豪，高向东

1.广东工业大学 机电工程学院，广州510006

2.黄埔海关技术中心，广东 东莞523076

X光安检是一项成熟的安检技术，广泛应用于各种公众安检领域。X光能够穿透物体产生透视图像，可清晰看到和检查行李中的物品。目前X光图像违禁品检查还需安检人员对X光图像进行判别[1]，但其工作量和工作强度巨大，尤其是人员流动的高峰期，安检人员难以进行快速判别。安检人员安检准确率为80%~90%[2]，物体在行李中堆放位置及其角度呈现出高度的不确定性，物体非标准平面图像比标准平面图像识别难度更大，因此自动安检成为安检领域的必然趋势。

近年来深度学习在图像处理方面取得大量成果[3]。基于深度学习的X光图像违禁品研究文献逐渐增加，针对X光违禁品检测应用研究现状，对违禁品检测技术进行归纳与总结，分析该领域内存在的不足与值得关注的方向。首先介绍X光成像相关技术及其特点，然后探讨传统机器学习的X光违禁品检测方法，分析基于深度学习的X光图像违禁品检测算法研究，最后总结现有研究的不足并对未来发展方向进行展望。

1 X光成像技术

X射线由德国物理学家伦琴于1895年发现，其能量很强，波长很短，可穿透物质。X射线在医疗、工业检测、公共安全等领域发挥着极其重要的作用。X光成像技术主要有透视成像技术、背散射成像技术和计算机断层扫描技术（CT）等。

背散射技术利用康普顿散射原理进行成像，X光遇到物体会产生大量散射光子，散射强度与物体原子序数有关，通过散射光子进行探测成像。……