基于主元分析的电磁继电器贮存失效机理研究
2021-06-16李维燕王召斌陈康宁
江苏科技大学学报(自然科学版) 2021年2期
李维燕,王召斌,陈康宁,李 朕,王 占,尚 尚
(江苏科技大学 电子信息学院,镇江 212100)
航天继电器、弹用、军用继电器等特殊用途的继电器,是导弹武器系统的关键器件,承担着系统控制与保护等重要的功能,在和平与发展的年代,导弹武器会长期处于贮存状态,其所用继电器也将处于贮存状态,因此,研究这类继电器的贮存可靠性具有重要的意义[1].
电磁继电器在贮存过程中,各方面性能会随着贮存时间的延长不断退化,可能出现多种不同的失效模式,表现为不同参数的退化.产品的失效是不同退化模式间竞争的结果,任何一个参数超出阈值都可能使继电器失效,且由最早达到失效阈值的退化参数决定[2].
通常用加速贮存实验获得的敏感参数来分析继电器性能的变化.继电器贮存退化过程中可能会存在多个与性能有关的敏感参数,目前大多数学者基于单一参数建模,如文献[3]以接触电阻为敏感参数,采用Bayes方法对继电器的可靠性进行评估;文献[4]分别以接触电阻和吸合时间建立模型;文献[5]以接通时间、断开时间以及接触电阻建立模型,但仅仅用一两个敏感参数建模分析其可靠性可能会忽略掉很多重要信息[6-7].因此,为了使继电器的贮存可靠性分析更加准确,文中提出了基于主成分分析的贮存退化数据分析方法,在继电器进行加速贮存实验的基础上,确定继电器的失效模式,以及退化的敏感参数,通过相关性分析判断敏感……
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