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CR检测系统长期稳定性测试方法的标准对比

2021-06-08陆雷俊

无损检测 2021年5期
关键词:标准设备检测

陆雷俊

(上海船舶工艺研究所,上海 200032)

计算机数字射线检测技术在国防、能源、船舶、航空、航天、兵器等领域的应用越来越广泛[1-2],其相对于传统胶片射线检测技术具有可长期保存、显示多样、便于智能识别等优势,预计伴随着设备和材料的国产化,其技术应用将不断成熟、深化。相对于DR(数字X射线摄影)技术,CR(计算机X射线摄影)检测技术所使用的设备和材料成本较低,具有成像板(IP板)可弯曲、现场检测便利等优势,且CR检测系统不需要淘汰现有的X射线机、定向射线机、爬行器等设备,预计随着国内数字射线检测设备、材料、工艺等标准的陆续规范化,其会有越来越广泛的应用场景。

随着系统使用时间的增加,CR成像质量及设备性能呈现下降的趋势。在成像质量控制中,CR系统的运行情况(如正常磨损、维护不足、设置/校准不当等)、滑移、激光抖动、几何变形等多种因素都会影响CR图像的空间分辨率、对比度、信噪比和等效灵敏度等相关指标[3]。CR成像质量下降易导致缺陷的漏检和误检。为提高CR检测的可靠性,一般将影响成像质量的相关指标按照重要程度列入长期稳定性考核要求。

CR检测系统的长期稳定性作为无损检测工艺控制的重要内容,能规范相关检测技术的应用。对比分析了GB/T 21356-2008(以下简写为GB/T 21356),ASTM E 2445-2014(以下简写为E 2445)和EN 14784-1-2005(以下简写为E 14784-1)标准中典型的CR设备长期稳定性测试的相关方法,并进一步梳理、总结了ASTM(美国材料实验协会)标准的要求,既可规范设备制造商的相关技术条款,又可为用户建立CR系统长期稳定性质量控制文件提供技术基础,提供更高更可靠的无损检测技术服务,迎合高质量的工业全球化趋势。……

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