一种低温探针台红外焦平面探测器测试系统信号调理系统

2021-05-19李腾飞彭晶孟超

电子元器件与信息技术 2021年2期

李腾飞，彭晶，孟超

（中国空空导弹研究院，河南洛阳 471000）

0 引言

焦平面芯片组件是红外探测器的重要组成部分[1]，快速、准确地评估红外焦平面阵列的性能，对于提升探测器的整体性能具有重要意义。制冷型红外焦平面探测器芯片的响应测试需建立液氮温度的低温环境[2]，目前国内针对制冷型探测器芯片低温入检及筛选都是通过金属杜瓦进行测试，存在成本高、装配复杂和效率低的缺点，同时对芯片结构会造成一定损坏。

低温探针台是能够在低温环境下对精密器件进行可靠性检测的重要测试设备[3]。采用低温探针台开发专用于制冷型红外焦平面探测器的测试系统，对电路及芯片组件入检和筛选，高效筛选出不合格组件，节省探测器的封装成本。

图1为基于低温探针台的红外焦平面测试系统原理图。低温探针台提供探针与被测芯片的接触平台，保证探针与被测芯片的精确接触，同时提供芯片工作的低温和真空环境。脉冲发生器和偏置电源在工控机控制下经信号调理电路为芯片提供时序脉冲和偏置电压，探测器芯片输出模拟信号，经信号调理后转换输出高速数采卡所需信号，该信号需经偏移、衰减和滤波等处理，高速数采卡对信号进行模数转换后传输至工控机，在工控机上进行数据处理、数据分析和图形显示等工作[4]。