刘仁杰

（北京电子科技职业学院， 北京 100176）

0 引言

静电放电是一种经常可以见到的危害源， 它可以对电子器件产生损坏，对其性能产生影响，由于近些年微电子技术和科技的发展，静电放电越来越受到大家的重视。所以当交通、通信、电子等电气电子设备（产品）受到静电放电干扰时， 需要对其是否能够保持性能正常或因此而遭受性能级别降低的能力进行测试， 这种能力就称为静电放电抗扰度。 静电放电抗扰度实验是电磁兼容实验的重要组成部分， 基本上所有的电子器件都要经过静电放电抗扰度实验的测试。 静电放电与电子设备功能失效的关联研究仍然是需要重点关注的方向， 改进实验方法和平台来替代一些需要用数学计算所解决的问题才是研究的根本。 为此本文通过实际测试来研究分析了如何正确并有效地提高这些产品的静电放电抗扰度能力， 对电子器件如何提升静电放电抗扰度具有一定的参考价值。

1 静电放电抗扰度实验概述

1.1 实验概述

静电放电抗扰度实验一般采取与测试时所使用的标准一致，即《GB/T 17626.2 电磁兼容实验和测量技术静电放电抗扰度实验》，该标准明确了实验等级、测试方法等。

标准中定义的实验等级如表1 所示。

表1 静电放电实验等级

1.2 实验布置

如图1 所示为台式设备的静电放电抗扰度实验布置图，该实验布置中分别有一个水平耦合板（HCP）和垂直耦合板（VCP），前者使用一个规格为1.6m×0.8m 的金属板平放在木桌上，且可对该板直接放电。……