电子元器件可靠性评价与质量控制对策探究
2020-08-06王甫明
现代经济信息 2020年8期
王甫明

摘要:对电子元器件可靠性评价及质量控制进行研究,总结影响电子元器件使用的因素,旨在通过评价方案的完善以及质量控制策略的完善等,优化电子元器件的设计方案,以更好地推动电子产业的稳步运行。
关键词:电子元器件;可靠性评价;质量控制
一、电子元器件可靠性评价
(一)电子元器件的可靠性
在电子元器件使用中,缺陷现象是较为常见的,为了更好地提高系统运行效率,需要将非破坏性筛选试验作为核心,以便及时发现元器件中存在的隐患问题。而且,在设备的可靠性筛选中,相关设备操作者可以及时发现元器件的故障损害,而且也可以通过各个流程的设计以及制造方案的优化,创新电子元器件的可靠性质量审查体系,以增强产品的可靠性[1]。
(二)电子元器件可靠性评价
1.芯片级。在电子元器件的可靠性评价中,芯片级的可靠性评价是较为重要的,主要是在芯片生产的过程中,对失效的芯片进行评价,通过芯片使用方法以及使用状况的分析,提高芯片的可靠性及整体质量,以实现芯片工艺监测的目的。而且,在芯片级的可靠性评价中,通过各项数据监测,可以准确、科学的评价出集成电路中的电子原件使用状况,并按照系统操作的特点,进行芯片级原件的数据监测,有效提高电子元器件的可靠性[2]。
2.微電子测试结构。根据电子元器件的使用特点,在可靠性评价中,通过微电子测试结构的设定,可以在可靠性技术评价中,对集成电路的可靠状态进行分析,以增强各个设备检测以及评价的效果。……
登录APP查看全文
