王洋　张宏飞　孟超　司俊杰

摘要：      InSb红外探测器是红外系统的核心部件， 探测器的寿命在很大程度上决定着系统的寿命， 直接影响着系统的使用及保障。 因此， 探测器的寿命如何评价及采用何种试验方法来评价至关重要， 但由于红外系统的敏感性， 可查阅的国外资料比较少， 并且寿命试验周期长、 费用高， 国内至今未形成有效的寿命试验、 分析与评价方法。  本文采用15个InSb多元探测器开展了贮存试验研究， 应力水平分别为70 ℃、 80 ℃、 90 ℃。 测试试验过程中不同温度下热负载的变化， 对试验数据进行统计分析及处理， 获得了寿命加速模型t=2.18×10-8·exp（0.79/KT）， 激活能为0.79 eV， 评估了探测器在30 ℃下寿命可以达到30.76年。

关键词：      探测器;  InSb; 寿命试验; 贮存寿命; 玻璃杜瓦

中图分类号：     TN215; TJ760.7文献标识码：    A文章编号：     1673-5048（2020）02-0092-05

0引言

玻璃杜瓦內部真空度的保持时间直接关系到探测器的贮存寿命， 这种由于真空度下降导致器件失效的寿命称为贮存寿命， 影响真空度主要原因有杜瓦漏气和材料放气。

杜瓦漏气是不可避免的。 严格来说， 一切真空器件漏气是绝对的， 不漏是相对的。 通常气体分子能渗透不同金属、 非金属材料的晶格进入器件内部， 但在探测器工作温度范围内数量级很小， 而制造工艺不良带来的漏气远比材料渗透大几个数量级[1]。 对于玻璃杜瓦而言， 优化生产工艺、 减少接缝、 材料预处理都能有效降低产品的漏气率。

材料放气主要源于杜瓦内部滤光片支架、 冷光阑等金属材料[2]。 玻璃杜瓦经过高温排气之后， 真空内壁溶解、 吸附的气体相对漏气基本可忽略。……