王风云沈 宇张 琛刘炳福郑纪业

（1. 山东省农业科学院科技信息研究所，济南250100；2. 山东科技大学计算机科学与工程学院，青岛266000）

0 引言

中国是世界上最大的苹果生产国［1］。清脆多汁、酸甜可口的苹果一直深受人们的喜爱。尽管苹果产量居世界第一，我国苹果产业仍存在一味追求产量、果品质次价低的问题，即“好的不多，多的不好”。根据农业农村部发表的《苹果品质指标评价规范》［2］，苹果的品质指标包括外观品质指标和内在品质指标。苹果的糖度是内在品质指标的重要组成部分，也是消费者选购苹果的主要依据之一。因此，找到能够无损、快速检测糖度的方法对我国苹果产业具有重要意义。

测量苹果糖度的传统方法是将苹果取样榨汁后用折光计测量，会损坏被测量苹果，加之测量速度较慢，只适用于小规模抽样，不能满足消费者对糖度的差异化需求。近年来，近红外光谱技术被应用于苹果糖度的无损测量，可以对苹果进行快速、大批量的无损检测，目前已投入生产实践。该技术的缺点是检测指标较为单一，且不能检测苹果的外观品质指标。高光谱成像技术的研究与应用逐步扩展到农业领域，并应用于苹果品质无损检测中。2011年，单佳佳等［3］结合高光谱图像处理和光谱分析方法，通过图像扫描对苹果的表面摔伤和糖分含量进行检测，实现了苹果内部品质和外部品质的同时检测。2012年，郭俊先等［4］采用一阶微分进行光谱预处理，基于多元线性回归（Multivariable Linear Regression，MLR）方法建立苹果糖度的预测模型。……