周明泉，江国华

(南京航空航天大学计算机科学与技术学院，江苏 南京 211106)

0 引 言

在软件开发过程中，软件测试消耗大量的资源，软件缺陷定位是软件测试环节中的重要一环，也是比较困难的一步。为了提高软件测试的效率，研究快速定位软件缺陷位置的方法成为一个重要的研究课题[1]。

现有的缺陷定位方法大都是在语句或语句块级别进行的，主流的是基于频谱的缺陷定位方法[2-4]。这类方法主要是利用测试用例在语句或语句块上的执行信息，计算语句或语句块的可疑值大小，按照可疑值的大小依次进行缺陷检查。还有基于程序切片的定位方法[5-7]，这类方法主要是将各种切片技术应用于软件缺陷定位，缩小定位范围；基于数据挖掘软件缺陷定位方法[8]，利用关联规则挖掘执行序列与测试用例通过或失败的关联关系；基于状态依赖的软件缺陷定位方法[9]，主要是将程序控制流图看成有向图，程序的执行是从一个状态转移到另一个状态，根据状态转移的概率确定状态的检查次序。

在软件开发过程中，系统测试缺陷位置的定位更为复杂：一个项目包含大量函数，其中语句的数量更为庞大，在这种情况下语句级别的缺陷定位技术难以适用。针对这种情况，一些人提出基于组件的软件缺陷定位方法[10-11]，文献[12]在此基础上提出一种二次定位策略，其主要是对函数调用图和函数执行路径进行分析，得出可能包含缺陷的函数组合情况，并利用模型诊断的方法对这些组合进行可疑度衡量，按照可疑度的高低对这些组合进行缺陷查找，最后对确定的包含缺陷的函数使用DStar定位函数定位具体的缺陷代码行。……