吴 健，董吉义，Bipin Kumar Gond，王友善，粟本龙，崔志博

[1.哈尔滨工业大学（威海） 橡胶复合材料与结构研究所，山东 威海 264209；2.印度理工学院坎普尔校区，印度 坎普尔208016]

硅橡胶密封件是保证设备正常运转的关键零件，以其优异的物理和化学性能在航空航天领域应用广泛。由于加工精度、复杂工作环境及装配工艺等的影响，在长期使用过程中密封界面容易出现表面缺陷。而密封件上任一微小的表面缺陷都极易导致泄漏，进而致使整条密封带失效，造成严重损失。因此，研究表面缺陷对密封性能的影响尤为重要。

近年来，国内外学者针对表面形貌对密封性能的影响做了较多研究。Y.Matsuzaki等[1]基于硬质球与软质锥形密封面的接触建立密封面接触模型，并通过试验研究了不同粗糙表面泄漏量的变化规律。P.Wagner等[2]基于功率谱密度分解理论建立了橡胶接触模型的多尺度有限元分析方法，从宏观和微观角度研究了橡胶在粗糙表面的接触特性。陈国定等[3]利用有限元分析软件MARC/MENTAT 320针对不同粗糙峰形貌对密封性能的影响进行了研究，得出了静态接触下密封件陷入粗糙谷中的位移量随粗糙峰结构和波长尺寸的变化规律。王国志等[4]利用ANSYS软件分析了水压O形圈在不同粗糙表面下密封表面接触间隙的变化规律，并采用FLUENT软件进行微流场仿真，得到了O形圈的最小接触宽度。蔡艳等[5]通过实际测量漏油和不漏油的油泵零件各个表面粗糙度参数，揭示了轮廓的支承长度率对密封性能的影响。……