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测试成本的挑战及对策

2018-05-25章慧彬

电子与封装 2018年5期
关键词:成本设计

章慧彬

(中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214035)

1 引言

集成电路测试是唯一贯穿于集成电路设计、制造、封装、应用全过程的产业,见图1。随着集成电路进入后摩尔时代,高复杂性、高集成度、高性能的产品给测试成本和难度带来了巨大的挑战。

图1 测试贯穿于集成电路制造全过程

2 测试经济学

为了保证产品的高质量,需要在产品研制过程中对每个测试阶段进行大量的投资,包括设备、场地、人力、技术等,这些投资即为测试成本。虽然产品质量要求测试投资尽可能多,但产品的经济效益(如成本)却限制了测试方面的投资,如何在保证产品质量的前提下尽可能降低成本,这就是测试经济学。

测试最本质的意义是检查产品与需求的一致性,即检查产品的“好”与“坏”,并将所有不合格产品在到达用户手中之前剔除出去。但是从测试经济学意义上看,测试还有一个价值就是要体现产品的经济性,如果测试成本居高不下,客户难以接受,产品就失去了生产的意义。有学者指出,未来的集成电路测试成本可达整个产品成本的40%~50%甚至更高。如何有效降低测试成本,就成了测试经济学的主要研究内容。

成本是可测量的数量,它在经济学中起着关键作用。成本主要包括固定成本和可变成本。总成本是指固定成本和可变成本的总和,随产量增加而增加;平均成本是总成本除以产量,平均成本随着产量的增加而降低。固定成本是必须的,并且不随着使用而改变,例如厂房和设备这些成本不随生产数量改变而改变,不管是生产100只电路还是生产10000只电路,固定成本保持不变,但分摊到每只电路上的固定成本却随着产量的增加而降低;……

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