摘要：文章经过对嵌入式电子信息系统工作原理的分析，建立了嵌入式电子信息系统可靠度约束模型，优化了嵌入式电子信息系统的失效率、故障密度函数、可用度及平均寿命，并算出了最佳状态下的可靠度参数。实验结果表明：新的可靠度优化方法具有一定的实用性，提高了嵌入式系统的可用度、建模准确度及使用寿命，优化了嵌入式系统。

关键词：电子信息系统；嵌入式；优化措施；可靠度；约束模型 文献标识码：A

中图分类号：TP23 文章编号：1009-2374（2017）11-0102-02 DOI：10.13535/j.cnki.11-4406/n.2017.11.052

嵌入式是单片机的升级版，同时也是目前热门的研究领域。现如今电子设备的研发已经趋于稳定，嵌入式系统的应用范围也进一步扩大，所以嵌入式系统的研发过程逐渐趋于复杂化，系统所依托的软硬件技术也在飞速发展。将电子信息系统和嵌入式结合之后，其可以广泛运用于交通控制、国防建设、航天航空以及核电能源等安全的关键领域，发挥出无法代替的作用。嵌入式系统的可靠度无法确保的最主要原因是系统受到系统理论、开发技术及保障技术等因素的限制。正是由于这个原因，用户对于系统的可靠性便产生了很大的质疑，因此该领域受广大学者关注、亟待解决的问题即是如何提高嵌入式相关电子信息系统的可靠度。以此为基础，本文详尽探讨、分析嵌入式电子信息系统可靠度的完善措施。

1 系统可靠度问题的产生

外部需求日益增多和技术的不断增强，使得嵌入式系统的功能也得到了逐步扩展，系统规模日渐复杂与庞大，同时系统的故障率和缺陷也不断增多。……