Ag掺杂ZnO缺陷形成能的第一性原理研究*
2017-06-25周嘉,王欢,牛丽
哈尔滨师范大学自然科学学报 2017年5期
关键词:模型
周 嘉,王 欢,牛 丽
(光电帯隙省部共建教育部重点实验室;哈尔滨师范大学)
0 引言
氧化锌(ZnO)是一种大激子束缚能(60meV)的宽带隙(3.37eV)直接半导体材料,具有近紫外发射、透明导电性、压电性等性质的重要功能氧化物之一[1-3].由于其在光伏、气体传感器和光催化方面的独特性质和新颖的应用[4-6],ZnO半导体材料受到了广泛的关注.一般来说,光电特性主要由缺陷和杂质决定,用适当的掺杂剂在ZnO中掺杂是调节性质的有效手段,ZnO材料的掺杂大多为N型半导体,P型掺杂很难实现,虽然尝试使用许多不同掺杂剂来获得P型ZnO,例如掺入V族元素N[7],但是理论研究表明N的受主能级很深,难以在室温下解释N受体的活性,并且实验上尚未实现具有低电阻率和高迁移率的高质量P型ZnO.利用第一副族掺杂ZnO实现P型半导体研究方面已经取得了一些进展,如Cu、Ag、Au等[8-9].根据研究结果知道Ag是化合物半导体中的主要激活剂.对于ZnO,Ag是一个很好的调整其性能的候选元素.早期的研究表明Ag在ZnO的掺入降低了供体密度,这意味着Ag可能是ZnO中的一种有效受体[10].近年来的一些实验研究证实了Ag掺杂ZnO的P型导电性[11-12]. Yan Yanfa等[13]研究表明,Ag有望成为生产P型ZnO的有效受体.银的电离能为0.4eV[14],这证实了银作为ZnO受主的潜在应用.然而,在Ag掺杂ZnO中,受主能级的位置仍然存在争议,银原子掺杂ZnO位置多样,如取代Zn位、O位或间隙位[15].并且多原子Ag掺杂ZnO晶体的详细理论计算和分析少有报道,其电子性质迄今尚未完善,故从理论上对其进行深入研……
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