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小儿高热惊厥的临床因素与脑电图分析

2017-06-21高小艳

中西医结合心血管病电子杂志 2016年34期
关键词:高热惊厥临床分析脑电图

高小艳

【摘要】目的 探讨小儿高热惊厥的临床因素与脑电图特征的关系。方法 回顾性分析我院2010年1月~2015年12月期间250热性惊厥患儿的临床资料,观察热性惊厥发病患儿脑电图异常变化与患儿年龄、性别、发病时间等因素之间的相关性。结果 250例患儿发病10天后脑电图分析186例(74.40%)正常;64例(25.60%)出现异常。其中患儿各因素分析与脑电图检查异常的相关性分析中,性别和疾病发作时间2因素结果比较无统计学意义,P>0.05。在患儿的年龄、发病次数、体温及遗传史等因素比较均有统计学意义,P<0.05。结论 高热惊厥患儿临床脑电图异常率与患儿的年龄、发病次数、体温及家族遗传有相

关性。

【关键词】高热惊厥;脑电图;临床分析

【中图分类号】R742.1 【文献标识码】B 【文章编号】ISSN.2095-6681.2016.34..02

小儿高热惊厥是儿科常見疾病,其临床发病率占到小儿惊厥的30%以上[1],若反复发作可导致患儿癫痫、影响脑部正常发育以及导致患儿智力障碍等严重后果。由于小儿高热惊厥的发病过程会引发患儿脑电异常,临床可通过观察患儿脑电图检查情况来对疾病进行辅助诊断。我院儿科将250例小儿高热惊厥的临床病例特征及脑电图变化情况进行分析,现报道如下。

1 研究资料与方法

1.1 研究资料

选择我院儿科于2010年1月~2015年12月期间收治的250热性惊厥患儿作为研究对象,男婴131例,女婴119例,年龄5个月~6岁,其中0~3岁187例,3岁以上26例,体温37.8℃~40.6℃。大部分患儿存在消化道或者呼吸道感染,所有患儿均符合小儿神经系统疾病中关于小儿热性惊厥的诊断标准,且排除由中枢神经系统感染及其他疾病导致小儿发热的情况。

1.2 方法

1.2.1 诊断依据

热性惊厥诊断符合小儿神经系统疾病中关于小儿热性惊厥的诊断标准,脑电图诊断依据临床脑电图学进行分析。

1.2.2 方法

本次脑电图检测仪器采用BM-1118型脑电综合分析仪(北京安贝儿科技有限责任公司生产),电源为:交流220×(1±10%)V,(50±1)Hz,输入功率:260 VA,电击防护类型:Ⅰ类BF型。采用单、双极联合导联法进行记录。对首次发病的患儿,应在发病10天左右进行脑电图检查,检查异常者,需定期复查。对不能配合的患儿应在睡眠或者药物催眠下进行检查,检查时需安静配合,患儿取卧位或坐立位。

1.2.3 评价方法

记录所有患儿的首次发病时年龄、发病次数、发病持续时间、体温、是否有家族遗产史、出生史等,分析脑电图异常结果与各个因素的相关性。

1.3 统计学方法

本次所有数据采用SPSS 17.0统计学软件分析,各计数资料采用率(%)表示,行x2检验,比较均以P<0.05为差异具有统计学意义。

2 结 果

2.1 脑电图分析结果

所有250例患儿惊厥发生后在10天左右进行脑电图检查,结果显示:186例(74.40%)正常;64例(25.60%)出现异常。64例异常患儿中,广泛性慢波异常51例(79.69%,51/64),癫痫样放电异常13例(20.31%,13/64)。对64例异常患儿7天后进行复查结果显示:39例(60.94%)正常;25例(39.06%)异常,其中16例(64.00%,16/25)为广泛性慢波异常,与前一次检查时比较,其程度均有所减弱,其余9例(36.00%,9/25)为不规则放电。

2.2 脑电图异常与患儿各个因素关系结果分析

通过对患儿的性别、发病年龄等因素及脑电图检查异常情况的结果分析显示,131例男婴中,脑电图异常35例异常率26.72%;119例女婴中,脑电图异常29例异常率24.372%。187例3岁以下患儿中,脑电图异常41例异常率21.92%;63例3岁以上患儿中脑电图异常23例,异常率35.51%。195例首次发病患儿脑电图异常41例,异常率21.03%;55例复发性患儿中脑电图23例异常,异常率41.82%。72例38.5℃以下患儿中脑电图异常31例,异常率43.05%;178例38.5℃以上患儿中脑电图异常33例,异常率18.54%。181例持续时间在15 min以下的患儿中脑电图异常47例,异常率25.97%;69例持续时间在15 min以上的患儿中脑电图异常17例,异常率24.64%。47例有家族史的患儿中脑电图20例异常,异常率42.55%;203例无家族史的患儿中脑电图44例异常,异常率21.67%。其中各因素脑电图异常中,男女性别和疾病发作时间2因素比较结果无统计学意义,P>0.05。其余各因素比较均有统计学意义,P<0.05。

3 讨 论

小儿惊厥主要发生在婴幼儿期(0~5)岁左右,并伴有发热现象,故又称作小儿高热惊厥,其发病机理是由于患儿脑功能紊乱所诱发,病情反复时患儿脑组织会发生缺氧损伤,最终影响到中枢神经系统。其临床表现为高热、抽搐及痉挛等。相关临床报道称[2],小儿热惊厥的临床预后良好,在12岁以内的发病率仅为4%。研究称[3],患儿在惊厥发作时可在脑电图检查时发现异常,脑电图的变化与惊厥有一定的相关性,其异常率与患儿性别、年龄、发病次数等多因素有关。

本次分析结果表明,在所有250例样本各相关因素脑电图异常分析结果中,男女性别比中,男婴异常率26.72%,女婴异常率24.372%;发病持续时间在15 min以下的患儿中异常率25.97%,持续时间在15 min以上的患儿异常率24.64%。两组异常率都比较接近,结果无统计学意义,P>0.05。3岁以下患儿中,异常率21.92%;3岁以上患儿中异常率35.51%。两组比较有统计学意义,P<0.05。表明惊厥发生率与患者年龄有关,在3岁以上患儿中表现更明显。首次发病患儿异常率21.03%;复发性患儿中异常率41.82%,复发性患儿明显高于首发患儿,两组比较有统计学意义,P<0.05。38.5℃以下患儿中异常率43.05%;38.5℃以上患儿中异常率18.54%。两组比较有统计学意义,P<0.05。分析其原因可能由于低热患儿大脑中存在可变的病灶,低热即可引起惊厥,脑电图即出现异常,而在高热中反而表现的不够明显。有家族史的患儿异常率42.55%;无家族史的患儿异常率21.67%。两组比较有统计学意义,P<0.05。表明家族遗传史对患儿的发病有着重要的影响因素,这与李羚等[4-5]研究报道结果相符。

综上,临床脑电图分析异常与患儿惊厥的临床因素具有相关性,密切关注患儿临床各个因素及脑电图异常变化情况,对患儿惊厥的诊断和治疗有重要的指导意义。

参考文献

[1] 李 娜,徐向平.热性惊厥发病机制的研究进展[J].检验医学与临床,2016,(11):1584-1586.

[2] 伍红健,谭志伟,伍立明,等.小儿热性惊厥复发的相关因素分析[J].临床合理用药杂志,2014,(21):76-77.

[3] 刘世玲.90例小儿热性惊厥的动态脑电图及相关因素分析[J].右江民族医学院学报,2011,(06):799-800.

[4] 李 羚,刘志华,郭 燕.高热惊厥患儿的病情与其脑电图检查结果的关联性分析[J].当代医药论丛,2015,(18):41-42.

[5] 王增成.小儿热性惊厥临床特点及脑电图分析[J].中国现代药物应用,2015,(24):41-42.

本文编辑:王 琦

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