一种无源RFID标签芯片的混合验证平台设计
2017-06-01庞立鹏朱家俊魏敬和
电子与封装 2017年5期
庞立鹏,朱家俊,魏敬和
(中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214072)
一种无源RFID标签芯片的混合验证平台设计
庞立鹏,朱家俊,魏敬和
(中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214072)
无源RFID标签芯片需要通过电感耦合等方式从空间射频场中获取能量才能正常工作。因此在标签芯片设计、验证过程中必须构建一个射频天线测试模型来模拟其正常工作条件。针对一款13.56 MHz无源RFID标签芯片电路,充分利用射频天线测试模型,提出了一种应用于无源RFID标签芯片的数模混合验证平台设计。利用该平台可以完成芯片从前端到后端设计的验证,缩短RFID标签芯片的设计开发周期,提高设计的成功率。
无源RFID;标签芯片;混仿;验证平台
1 引言
作为终端之间的直接通信技术,RFID技术由于其设备的低功耗、低成本、小型化等特点,在通信、工业、农业、生活等领域快速发展着[1~3]。近年来物联网工程技术的进步与发展,极大程度上推动了近距离无线通信技术的发展和普及,这也给RFID标签芯片的技术发展注入了新的活力。
RFID标签芯片由于其无源特性,增加了芯片设计和验证的复杂度。为了保证标签芯片的设计环境与实际工作环境的一致性,必须构建一个射频天线测试模型来模拟其正常工作条件[4]。一种通用的方法是直接使用Verilog-A语言对其建模,但这要求设计者必须对整个系统有深刻的理解。本文使用另一种更简单有效的方法,直接使用分离元器件来构建整个读写系统。……
登录APP查看全文
