并联系统下屏蔽数据新模型的统计分析
2017-04-05徐晓岭王蓉华顾蓓青
兵器装备工程学报 2017年3期
关键词:系统
徐晓岭,王蓉华,顾蓓青
(1.上海对外经贸大学统计与信息学院,上海 201620; 2.上海师范大学 数理学院,上海 200234)
【基础理论与应用研究】
并联系统下屏蔽数据新模型的统计分析
徐晓岭1,王蓉华2,顾蓓青1
(1.上海对外经贸大学统计与信息学院,上海 201620; 2.上海师范大学 数理学院,上海 200234)
给出了并联系统下屏蔽数据新模型,修正了原有的基本假定,在此基础上推导了相应的似然函数,在全样本、定时截尾样本场合下研究了参数的极大似然估计,并通过Monte-Carlo模拟算例验证方法的可行性。
并联系统;屏蔽数据;似然函数;极大似然估计
在可靠性分析中,人们往往通过分析系统的寿命数据来估计该系统中各组成单元寿命分布中的未知参数。系统寿命试验数据包括两个方面,一是失效时间,二是失效原因。理想状态下,系统的寿命数据应该包括系统失效的具体时间以及由哪个单元失效导致整个系统失效的信息。但大多数时候,导致系统失效的那个单元并不能够被准确识别出来,人们仅能够把导致系统失效的原因归结为某些单元所组成的一个集合,系统真正失效的原因被屏蔽掉了。在现实生活中,由于故障诊断和故障检测所需的费用昂贵,特别是在现代系统中越来越多地采用模块化设计,引起系统失效的确切单元通常都是未知的。在计算机或集成电路等进行系统可靠性研究时,也会遇到相类似的屏蔽问题。导致屏蔽发生的原因很多,如:经费的不足、时间的限制、记录的错误,诊断工具的缺乏及由某些单元失效所带来的一些破坏性的后果等。……
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