平面近场测试中误差分析方法的研究

2017-03-21孙士林陈玉林

中国电子科学研究院学报 2017年5期

孙士林,陈玉林

(华东电子工程研究所，合肥 230031)

0 引言

平面近场测试一次测量即可以确定天线远场特性的完整信息，而且可以在室内进行，这不仅使工作人员得到相对舒适的工作场所，而且提供了一个可以控制的测试环境和全天候工作条件。

但对任何一种测量技术，首要考虑的内容之一就是对误差真实的估计，特别是对于近场技术，包含了大量数学方法，其难度的最大因素也在于其数学上的复杂性。另外，暗室因为集成了大量仪表等因素，环境十分复杂，故需要对暗室误差进行详尽分析和评估，以了解各项误差对天线远场方向图的影响。传统的误差评估方法是通过对比给定天线的近场测量和远场测量结果，将这两种方法的差别作为近场测试技术的误差测量结果，但这种方法的局限性在于：(1)这种方法评估的误差受远场测量中的误差影响；(2)不能确定每种误差对最终结果的影响；(3)某些种类的天线只适用于近场测量，无法用远场方法来测量[1]。

但是在目前国内对测量准确度的评定中，存在方法不统一，且存在混淆分析中概念的问题，为了明确解决这些问题，笔者根据近几年对近场测试误差分析方面的研究，结合国内外测试误差分析的发展，明确了误差分析中的相关概念，对误差分析使用的方法进行了研究，并给出了分析的实例。