高 卫，孙 鹏，孙奕帆，党东妮



基于平均绝对差分的光谱成像伪装干扰效果评估

高 卫，孙 鹏，孙奕帆，党东妮

( 北京跟踪与通信技术研究所，北京 100094 )

为了探索研究利用宽波段伪装对光谱成像设备实现有效干扰的可行性，并定量、客观评估光谱成像伪装干扰效果，利用一种超光谱成像仪和一种宽波段伪装网进行了光谱成像伪装干扰试验，并利用平均绝对差分对光谱成像伪装干扰效果进行了定量分析和评估。结果表明，宽波段伪装网在超光谱成像仪各谱段均有一定的伪装干扰效果，伪装干扰效果的显著程度因伪装前的目标特性、伪装网层数以及谱段的不同而不同；利用平均绝对差分准则可以将伪装干扰效果的显著程度定量化，并排除了主观因素，使对光谱成像伪装干扰效果的评估更加精确，因此是一种适用于光谱成像干扰效果评估的定量、客观准则。

光谱成像；光电对抗；伪装；干扰效果评估；平均绝对差分

0 引 言

近年来，光谱成像技术在航空航天遥感、资源勘查、军事侦察等领域的应用日益广泛，其中，在军事侦察等领域的应用对国家安全带来了威胁[1-5]。在此情况下，找到针对来自空中、空间的光谱成像侦察威胁的有效对抗手段和措施，以保护高价值目标不被探测，就成为电子对抗与防护技术发展的当务之急。在各种常规的光电对抗手段和措施中，伪装材料和伪装网是比较廉价高效的。对于光谱成像设备，由于通常工作在比较宽的波段范围内，要想取得比较好的伪装干扰效果，就需要有宽波段的伪装材料和伪装网，这样才能对各个工作谱段都形成有效干扰。……