邓　敏，孙　莉，周小燕，何　伟，梁晨宇，李　龙

(1.驻209所军事代表室，成都　610041； 2.西南技术物理研究所，成都　610041)



硅雪崩光电探测器工作寿命试验及失效分析研究

邓敏1，孙莉1，周小燕2，何伟2，梁晨宇2，李龙2

(1.驻209所军事代表室，成都610041； 2.西南技术物理研究所，成都610041)

通过FMEA分析和加速寿命试验，确定了硅雪崩光电探测器的主要失效模式有两种，一种是暗电流超标，另一种是前放输出电压不合格；对这两种失效模式进行了失效分析，认为是高温应力引起器件内部气氛的变化，主要是氢气含量变大引起器件暗电流不合格；大电流引起前置放大电路上晶体管损伤是前放输出电压不合格的原因。

硅雪崩光电探测器； FMEA；加速寿命试验；失效分析

本文引用格式：邓敏，孙莉，周小燕，等.硅雪崩光电探测器工作寿命试验及失效分析研究[J].兵器装备工程学报，2016(8):160-163.

随着光电技术的发展，硅雪崩光电探测器广泛应用于激光探测、激光告警和激光测距等领域，其作用是将接收到的光信号转化成电信号，并放大成系统所需要的信号后输出，是系统中的关键，一旦失效将造成巨大损失。对于连续工作的硅雪崩光电探测器，系统对其工作寿命提出了较高的要求，但是迄今有关硅雪崩光电探测器寿命研究的报道甚少，本文对硅雪崩光电探测器进行了FMEA分析，设计并实施了加速寿命试验。试验得到了与理论分析相同的两种失效模式，对其进行了失效分析，对光电探测器的寿命研究可以提供一定参考。……