王　超， 王立玢， 丛　正， 王　凯

(天津大学 电气与自动化工程学院，天津 300072)



缺陷方向对基于GMR的电涡流缺陷检测的影响*

王超， 王立玢， 丛正， 王凯

(天津大学 电气与自动化工程学院，天津 300072)

由于电涡流缺陷检测多采用单方向激励方式，而实际检测中缺陷的方向是未知的，从而造成检测灵敏度不确定。针对此情况设计以巨磁电阻(GMR)传感器为检测元件的矩形线圈激励的检测探头，以矩形缺陷为研究对象，从定性和定量两个角度仿真对比了在同一激励方向下，不同方向缺陷引起的磁感应强度变化，发现缺陷方向平行于激励线圈轴线时能更好地体现缺陷，在此基础上，对不同方向缺陷进行扫描实验，将测量数据扫描曲线进行对比发现，当缺陷方向平行于激励线圈轴线时曲线峰值较大且峰值位置明显，能更清晰地反映缺陷信息。

缺陷方向； 电涡流检测； 巨磁电阻； 矩形线圈

0　引　言

矩形激励线圈由于磁场分布均匀、受提离影响较小而广泛应用于电涡流缺陷检测中[1～4]。电涡流缺陷检测的灵敏度不仅受激励强度和检测元件的影响，也取决于缺陷与电涡流之间的相互作用[5]。检测中采用矩形线圈的单方向激励方式时，由于被测缺陷方向是未知的，缺陷的检测效果会受到影响。

很多学者针对缺陷方向和检测效果之间的关系开展了研究。Nagata S等人对比了缺陷长边垂直于和平行于电涡流时被阻隔的情况，分析指出缺陷检测的效果取决于缺陷和电涡流之间的角度[6]。……