李 肖，张珅毅，张伟杰

（1.中国科学院 空间科学与应用研究中心，北京　100190；2.中国科学院大学 北京　100190）

空间反符合杯测量系统电子读出电路的设计

李 肖1，2，张珅毅1，张伟杰1

（1.中国科学院 空间科学与应用研究中心，北京100190；2.中国科学院大学 北京100190）

为消除空间粒子测量中干扰粒子对粒子探测器测量精度的影响，空间反符合杯测量技术得到广泛应用。本文介绍了空间干扰粒子的来源及反符合杯测量系统的原理，针对系统测试需求，基于A225F芯片对系统输出脉冲读出电路进行了设计，并对A225F芯片的使用做了详细介绍，实现了高计数率下准高斯波形的整形，通过仿真和实验结果，验证了电路设计的合理性。

反符合；粒子探测；前置放大器；A225F

空间中的粒子包括质子、电子、重离子、中子等，一般使用传感器叠层形式的望远镜探测器进行测量，通过测量粒子在各片传感器中的沉积能量，利用预设的逻辑工作方式分析粒子的种类、能量和LET等信息。如风云三号的高能粒子探测器[1]、天宫1号的多向粒子探测器[2]。然而，在粒子测量过程中，一些从视场内入射的干扰粒子可能会触发错误的逻辑工作方式导致系统对粒子种类、能量等信息的误判；除了视场内的粒子干扰，穿越卫星和机壳屏蔽进入探测系统的粒子也会造成影响。一般情况下，干扰粒子造成的误差可达到10～ 20%，因此必须采取适当的技术消除干扰粒子的误差。

目前消除测量中粒子干扰的方法主要有两种：一是被……