于 明（集成电路测试技术北京市重点实验室，北京自动测试技术研究所，100088）



TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

于 明
（集成电路测试技术北京市重点实验室，北京自动测试技术研究所，100088）

摘要：本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP，进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备（ATE）BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是，通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI（Serial Communication Interface）串行通信接口，以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时，实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后，完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。

关键词：TMS320F28xx系列DSP；ATE；串行通信；测试向量匹配测试

0 引言

TMS320F28XX系列DSP集微控制器和高性能DSP的特点于一身，具有强大的控制和信号处理能力，能够实现复杂的控制算法，性能尤为以C28XX系列高精度数字信号处理器为最好。与并行接口相比，串行接口的最大特点是减少了器件引脚数目，降低了接口设计复杂性。目前所有的数字信号处理器都提供一个或多个串行接口，然而，也需要DSP能够与外设进行异步串行通信。特别在测试领域中，如何利用串行接口完成自动测试设备图形向量与芯片指令的匹配，并依据于此建立基于自动测试设备的测试方法，是本文探讨的内容。

1 SCI（Serial Communication Interface）基本原理

1.1SCI模块简介

图1 串行通信的三种方式

SCI（SerialCommunicationInterface）意为“串行通信接口”，是相对于并行通信的，是串行通信技术的一种总称，最早由Motorola公司提出的。它是一种通用异步通信接口UART，与MCS‐51的异步通信功能基本相同。……