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ICP-OES测定化探样品中21种元素谱线的选择

2016-06-24黄北川

分析仪器 2016年3期
关键词:分析

温 良 黄北川

(武警黄金第五支队 化验室,西安 710100))

ICP-OES测定化探样品中21种元素谱线的选择

温良黄北川

(武警黄金第五支队 化验室,西安 710100))

摘要:对采用ICP-OES法测定化探样品中Al、Ca、Fe、Mg、Na、K、Cr、Ti、Nb、V、Be、Co、Ni、Cu、La、Li、Ba、Mn、P、Sr、Zn等21种元素时谱线的选择进行了研究,在充分考虑了各元素的谱线干扰特点、背景校正的合理位置、曲线拟合的线性关系、谱线的强度大小、待测元素的含量范围、能否有效扣除谱线背景干扰和峰形的对称程度的因素后确定21种元素的分析谱线。用选定的分析谱线测得的21种元素的精密度(RSD)均小于5.8%,并且方法检出限低,满足地球化探样品分析的要求。

关键词:电感耦合等离子体发射光谱法谱线选择化探样品

目前,电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)中,关于干扰校正方法的有关报道的方法有稀释法、内标法,IEC元素校正系数法,基体匹配或标准加入法等[1,2]。这些方法虽然都能检测出可靠的结果,但对于成分复杂的地质样品,基体匹配或标准加入法太复杂不合适,而IEC元素校正系数法用于校正直接重叠的干扰效果较好,在设置IEC前需要知道什么干扰,并测定干扰。本实验充分考虑地质样品的复杂性,以国家标准物质作为标准曲线点,通过iTEVA分析软件自动背景校正后,考虑曲线拟合的线性关系、谱线的强度大小、元素的含量范围和峰形的对称程度来确定21种元素的分析谱线[3-5]。该方法在谱线扣除背景干扰中更加全面地解决问题,确定的分析谱线才更加准确。在实际的生产工作中,运用确定的分析谱线测定的分析结果完全符合《地质矿产实验室测试质量规范》[6]要求。……

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