赵　桦，王征宇，李　锴

（中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡214035）



基于V93000 ATE的MTL生成功能码的方法

赵桦，王征宇，李锴

（中国电子科技集团公司第58研究所，江苏无锡214035）

摘要：随着信息科学和产业的发展，集成电路为人们广泛应用。在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中，将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台，它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试（Wafer Sort）及终程测试（Final Test）。就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述，分析了与传统生成功能码方式相比，MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点。

关键词：测试技术；ATE；MTL；功能码

1　引言

随着信息科学和产业的发展，集成电路为人们广泛应用。在今天超大规模集成电路的设计中，特别是在系统芯片SOC设计中，将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试中一个十分重要的内容，随着存储器容量的不断增大，实现存储器全地址多功能测试所需要的功能码体积也迅速变大，有些已经超出了测试系统允许体积的上限，如何缩小功能码的大小成为了一个难题。

V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台，它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试（Wafer Sort）及终程测试（Final Test）。……