孙 阳 涂 彧

（苏州大学医学部放射医学与防护学院 苏州 215123）



硫酸镁对人脐静脉血管内皮细胞的辐射防护作用

孙 阳 涂 彧

（苏州大学医学部放射医学与防护学院 苏州 215123）

摘要对数生长期的人脐静脉血管内皮细胞(Human umbilical vein endothelial cells, HUVECs) 分3组进行不同处理后采用流式细胞仪检测细胞周期分布；Annexin V/PI双染法测定细胞凋亡率；Western blot检测Bcl-2蛋白的表达情况；RT-PCR法检测Bcl-2 mRNA的表达情况。结果显示，硫酸镁可以在X-射线照射24 h后改善HUVECs细胞G2/M期阻滞；在辐照后24、48、72 h可以提高细胞对X-射线的辐射敏感性，并增加细胞凋亡率(t=4.24、7.19、3.20，p<0.05)；在辐照后48、72 h能明显抑制抗凋亡蛋白Bcl-2蛋白的表达；照后24、48、72 h 的Bcl-2 mRNA表达量减少(t=3.034、6.182、3.957，p<0.05)。结果提示，硫酸镁可以缓解X-射线照射后细胞G2/M期阻滞，增加照射后HUVECs的细胞凋亡率，降低X-射线诱导的抗凋亡蛋白Bcl-2的表达。

关键词硫酸镁，人脐静脉血管内皮细胞，X-射线，细胞凋亡，Bcl-2

基金资助：国家自然科学基金(K112830513)资助

第一作者：孙阳，男，1989年7月出生，2012年毕业于苏州大学放射医学与防护学院，现为该校硕士研究生，研究方向为放射损伤与防护

Supported by National Natural Science Foundation of China (K112830513)

First author: SUN Yang (male) was born in July 1989 and graduated from School of Radiation Medicine and Protection of Soochow University in 2012. Now he is a master candidate at Soochow University, majoring in radiation injury and protection

Received 19 January 2016; accepted 11 March 2016

CLC TL71

放射性脑损伤(Radiation-induced brain injury, RBI)是临床上头颈部肿瘤放射治疗过程中的比较常见并发症之一，其发病机制并无统一定论，目前认为至少有3种因素参与了中枢神经系统放射性脑损伤的发病机制：细胞损伤、血管损伤和自身免疫反应[1]。关于血管由射线引起的损伤的大部分研究都集中在内皮细胞，因为通常认为内皮细胞是血管壁最脆弱敏感的部位。电离辐射可引起不同类型的DNA损伤，影响细胞存活和死亡的主要原因是DNA的损伤修复。DNA损伤后，细胞出现G1/S和/或G2/M期的周期阻滞，细胞周期进程的抑制有利于细胞有充足的时间进行损伤修复[2]。当DNA修复不可逆转，细胞则会发生凋亡。电离辐射引起的组织损伤反应的关键步骤包括血管内皮细胞功能和结构的改变。……