本刊记者 芦潇静

爱德万测试:创新是企业的生命力

本刊记者 芦潇静

中国政府强有力的扶持政策成为我国半导体产业快速发展的强大驱动力。虽然不少中国设计公司已然跻身于全球第一梯队，但垂直整合的半导体企业大多还在摸索之中，这也意味着中国市场具有很大的发展空间。对于21年前就在上海成立中国公司的爱德万测试而言，这是绝佳的机遇。一向注重创新的爱德万测试，通过不断研发新品、拓展新业务来迎接这一市场机遇。在近日举办的记者发布会上，爱德万测试全球市场副总裁Judy Davies，以及爱德万测试中国的市场销售总经理陆乐和负责业务战略发展的夏克金博士，共同分享了公司的最新发展状况。

Wave Scale测试板卡提供更加经济高效的测试方案

爱德万测试基于经典的V93000平台推出了Wave Scale系列测试板卡，对于无线通信而言，可以前所未有地提高射频及混合信号集成电路测试时的并行性及产能。新款V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX测试板卡，瞄准射频及无线通信市场，可实现高并行、多芯片同测及芯片内并行测试，从根本上降低测试成本，缩短产品上市时间，同时为未来5G芯片的测试开辟出一条新的路径。

Wave Scale RF板卡在每块板上拥有4个独立的射频子系统，并带有独立的信号激励及测量能力，能够在同一时间对LTE、GPS、蓝牙、WLAN器件进行测试。每个子系统带有8个单独的端口，能够同时将射频信号扇出到最多4个独立的测量仪器。这能使每个射频子系统能够支持多达8个芯片运行RX（接收器）和TX（发射器）的测试，每块板卡支持多达32个芯片同时测试。Wave Scale RF板卡的32个射频端口都能支持最高至6 GHz的频率。凭借200 MHz带宽，以及包括提供内部回路、嵌入式校准等在内的其他各种特性，Wave Scale RF板卡能很好地支持包括未来5G半导体器件在内的广泛的应用。

Wave Scale MX高速混合信号测试板卡为模拟IQ基带应用及高速DAC和ADC测试进行了优化，每块板卡上拥有32个完全独立的测试仪器，并且每个通道上带有一个额外的参数测量单元（PMU）以实现高精度的DC测量。凭借300 MHz的带宽，这块板卡能够支持最新的调制标准，包括对基带复合信号进行带外测量。

T5830存储器测试系统满足Flash器件测试成本效益需求

根据市场分析机构VLSI Research的调研，随着便携式电子应用的蓬勃发展，预计到2018年，Flash存储器测试系统的全球市场将达到1亿4800万美元。经济高效地测试非易失性存储器件，需要一个多功能的、灵活的测试平台来确保用户的投资回报率，并降低设备投资风险。

爱德万测试全新的T5830存储器测试系统，作为T5800测试平台的新成员正式投放市场，用于全面覆盖移动电子市场Flash器件的各种测试需求，并向用户提供最优化的测试解决方案。T5830测试系统同时具备支持前道晶圆测试以及后道封装测试的能力。其测试模块（Tester On Module）内置的可编程电源通道（PPS）的可扩展架构，可为不同引脚数量的芯片提供灵活经济的硬件资源分配组合。

T5830测试系统非常适合测试采用标准串行外围接口协议（SPI）的NOR和NAND Flash器件，以及引脚数较少的Flash器件（如智能卡、SIM、EEPROMs、内嵌式Flash等），可以完全应对并充分满足中国大陆和台湾地区蓬勃发展的物联网与智能卡市场的测试需求。

T5851为通用闪存设备及PCle BGA固态硬盘提供系统级测试

爱德万测试专为高效能通用快闪储存（UFS）元件与PCIe BGA固态硬盘（SSD）提供了低成本测试解决方案，即T5851系统，可满足智能手机、平板电脑、超便携式产品等低功耗、移动应用市场对于存储器IC的强劲需求。

T5851测试系统具有量产机型与工程开发机型，客户可以根据应用需求弹性运用于可靠性测试、品质检验测试、测试程序开发测试等用途，也能在搭载自动化动态机械手（如爱德万测试的M6242）的架构下，应用于量产环境。T5851是一套完全整合式的系统级测试解决方案，不仅能支持多种协议，且具备tester-per-DUT架构与专有的硬件加速器，使测试时间与效率领先业界。

勤于创新，才能不断发展

爱德万测试在测试领域耕耘多年，近两年新增了太赫兹频段信号测量和MEMS两个领域，其每年销售收入的20%都会投入到新产品研发中。为了更加贴近中国市场，继北京、苏州、成都之后，爱德万测试又在西安成立了研发中心，并寻求未来在深圳设置分支的可能性。除了各地的研发中心外，爱德万测试的全球应用研发中心也设立在中国，旗下100名经验丰富的工程师，在服务于全球客户的同时，竭力为中国本土客户提供最佳服务。