范勇++谢艳红++赵伟++杨瑞宵++陈昊

摘要：制备理论平均聚合度不同的聚酰胺酸短链分子用来处理纳米粒子，把经过处理的纳米分散液与高聚合度聚酰胺酸溶液纳米掺杂，再用流延法制得改性的纳米复合聚酰亚胺薄膜.通过介电谱、电导电流和耐电晕测试，研究不同聚合度聚酰胺酸短链分子处理纳米粒子对PI薄膜介电性能的影响.结果表明：随着聚酰胺酸短链分子理论平均聚合度的增加，复合薄膜介电系数逐渐增大，介电损耗逐渐变小，电老化闽值逐渐增大，在试验调整范围内，复合薄膜的耐电晕寿命随着聚酰胺酸短链分子理论平均聚合度的增加逐渐减小，但是变化幅度不太大，且均高于未用聚酰胺酸短链分子处理的薄膜.

关键词：聚酰胺酸短链分子；介电性能；载流子陷阱

DOI：10.15938/j.jhust.2015.05.011

中图分类号：TM215.3

文献标志码：A

文章编号：1007-2683（2015）05-0056-05

0 引言

聚酰亚胺薄膜因具有优异的介电性能被广泛应用于机电产品.长期以来，通过纳米粒子掺杂的方法进行改性，研究其对薄膜介电性能的影响，受到人们的普遍关注.其中研究方法主要有：引入偶联剂改性纳米粒子与有机基体间的界面；对纳米粒子表面进行修饰；在纳米粒子表面引入适当的基团等.本文通过制备理论平均聚合度不同的聚酰胺酸（PAA）短链分子对纳米氧化物分散液预处理，冉与聚酰亚胺纳米复合制成薄膜，对薄膜进行介电潜、电导电流和耐电晕测试，由测试结果分析PAA短链分子的理论平均聚……