蒋常菊

摘 要：随着去溶技术的成熟以及等离子质谱的大规模普及，实施膜去溶与等离子质谱联合测量的条件早已成熟，极大地方便了我们地质样品稀土含量的测量工作，对我国稀土发掘、开采等带来了积极的意义。膜去溶与等离子质谱联合测量涉及大量的数据、图表以及其它方面知识，课题庞杂、宏达，为了避免大而不统的现象，该文从信息信号的增加和多原子干扰的排除来分析地质样品稀土含量的膜去溶与等离子质谱联合测量。

关键词：地质样品 稀土含量 膜去溶 等离子质谱 联合测量

中图分类号：P595 文献标识码：A 文章编号：1674-098X（2015）07（a）-0117-01

等离子质谱全称电感耦合等离子体质谱（ICP-MS），根据元素特定核素的单一质荷比进行测定，测试原理简单、精准，能达到10-12（ppt）级别，广泛应用于地质、医学、冶金、环境、半导体、生物等各种分析领域。膜去溶是一种利用具有化学修饰表面的离子交换膜和高温去除溶液、干燥测试样品的技术。与传统的冷凝法相比，膜去溶不仅避免了溶剂成分的流失，提升了样品的传输效率，还能有效避免溶液引发的多原子干扰和等离子变化，有效避免“质谱干扰”和“非质谱干扰”对ICP-MS测试结果的影响。等离子质谱与膜去溶的关系是：等离子质谱是测量手段；膜去溶是辅助方法，在测量地质样品中稀土含量的过程中，联合应用等离子质谱和膜去溶能有效提升测量的准确性。

1 试验

1.1 仪器及试剂

本次试验采用美国Thermo Fisher Scientific公司生产的四级杆电感耦合等离子体质谱仪，进样系统采取Aridus-II膜去溶和冷却雾室[1]。……