超声波在圆柱形工件中的波型变化
2014-10-27王宇凡崔省安李瑞君王建利
无损检测 2014年7期
王宇凡,崔省安,李瑞君,高 兵,王建利
(1.西安向阳航天材料股份有限公司,西安 710025;2.兵器工业西北压力容器检测站,西安 710043;3.西安航天动力机械厂,西安 710025;4.西安泵阀总厂有限公司,西安 710025)
超声波直探头检测平面工件时,发射的声场以纵波为主,在近场区(N)之后以半扩散角(θ0)向外辐射的主声束,在声源附近主声束旁,存在大量的副瓣至近场区,副瓣以横波为主,能量较低,存在干涉现象,衰减较快,对于接触平面工件以主声束进行超声检测时,副瓣影响不大。当直探头放置在圆柱形工件曲面上检测时,探头晶片与工件呈线状接触,超声波进入工件后的声场与平面接触时截然不同。
笔者分析了直探头在圆柱形工件中的声场变化和波型变化,通过观察一次底波与三次底波间的波型变化,有助于检测圆柱形工件,如轴类、棒材的内部质量。
1 声场的变化
1.1 超声波在平面接触工件时的声场
超声波在平面接触工件时,其波源附近由于波的干涉而出现一系列声压极大值和极小值的区域,称为近场区,近场区内主声束旁有很多副瓣,比较复杂。约在1.64倍近场区之后,主声束以一定的角度向外扩散,声源辐射的纵波声场的第一零值发射角称为半扩散角(θ0)。其声场变化如图1所示。

图1 平面接触工件时声源辐射的声场特征
1.2 声源接触曲面工件时的声场变化
当直探头探测圆柱形工件时,探头仅与圆柱面曲面的一个很窄的矩形区域接触,接触宽度甚至远小于波长,从而在圆柱的截面内发生强烈的侧向辐射。……
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