冯鑫飞　唐云芳　王钟瑾

[摘要] 目的 观察热性惊厥患者的临床与脑电图特征，并探讨其与日后癫痫发生的联系。 方法 选取我院2011年1月～2012年12月 诊断的128例热性惊厥患者为研究对象，对其进行脑电图检查，并分析其与癫痫发生之间的联系。 结果 脑电图结果正常患者82例，占64.1%；脑电图异常46例，占35.9%。异常脑电图特征显示全导阵发性3.0～4.0Hz的棘慢波，且清醒与睡眠期均存在放电。脑电图异常与初发年龄、EP家族史、发热温度、热性惊厥类型、持续时间、24h内发作次数有关，共35例日后发生癫痫，发生率为76.1%。枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素。结论 临床中枕区和额区阵发性异常放电的热性惊厥患者日后更容易发生癫痫，临床中应引起足够的重视。

[关键词] 热性惊厥；脑电图；癫痫；相关性

[中图分类号] R720.597 [文献标识码] B [文章编号] 1673-9701（2014）13-0019-03

热性惊厥是儿科常见的疾病之一，在临床中具有较高的发病率。临床资料显示，多数患者日后很有可能会出现认知功能障碍与癫痫[1]。因此，加强热性惊厥患者日后癫痫的预防具有重要的意义[2]。本文对热性惊厥患者的临床与脑电图特征进行分析，探讨其与日后癫痫发生之间的联系，为临床中预防和诊治癫痫做好充分的准备，现报道的如下。

1资料与方法

1.1临床资料

选取我院2011年1月～2012年12月间诊断的128例热性惊厥患者为研究对象，男性患儿70例，女性患儿58例。年龄<6岁患儿76例，≥6岁患儿52例。依据患者的病情状况分为两种类型，单纯性：全身性发作，并且持续时间短暂，且不超过15min，在24h内无复发的情况，在发作之后神经系统正常。复杂性：发病年龄在6个月以内或者6岁以上，且体温不足38.5℃，惊厥持续时间超过15min；患者的发作类型呈现局灶性或者24h内发作的次数超过1次。单纯性患者82例，复杂性患者46例。本组患者均进行常规的体格和神经系统的检查，并且排除脑外伤和中枢神经系统感染及严重的全身性代谢紊乱与既往癫痫病史患者。

1.2检查方法

研究对象均进行视频脑电图检查，并在患者的体温恢复正常体温之后的1周或者2周内进行检查，采用9200型的光电脑电图仪，并严格的按照国际10～20系统放置头皮电极，给予双极16导联进行单双极描记，其双侧耳电极作为参考电极，时间为2h。全部采用自然睡眠法进行检查。脑电图描记主要包括患者的清醒期、思睡期和睡眠期以及觉醒期，并且对其结果进行判断[3]。

1.3分组与观察方法

对患者的基本资料进行分析，且对脑电图检测异常情况进行分析，并且分析患者不同放电部位和临床特征与日后癫痫发生之间的相关性。所有的患者均行门诊复诊，并且通过问卷调查获取患者的临床资料，对首次诊断之后的患者半年随访1次，并且依据其临床发作情况和脑电图检查的结果判断是否发生癫痫[4]。

1.4观察指标

①脑电图检查；②脑电图特征；③临床特征；④临床、脑电图特征与癫痫相关性。

1.5统计学处理

数据采取SPSS19.0的统计学软件进行分析与处理，计数资料采取χ2进行检验，临床、脑电图特征与日后癫痫的相关性采用Logistic回归性分析，P<0.05为差异有统计学意义。

2结果

2.1脑电图检测结果

对本组的128例热性惊厥患者的视频脑电图检查分析，脑电图正常患者82例，占64.1%，异常46例，占35.9%。数据的比较无明显差异（P>0.05） 。异常特征：全导阵发性3.0～4.0Hz的棘慢波，且清醒与睡眠期均存在放电。

2.2脑电图异常与临床特征的相关性分析

脑电图异常的基本资料比较，初发年龄≥6岁、发热温度<38.5℃、复杂性热性惊厥、部分发作和伴有EP家族史以及24h内发作>1次与持续时间≥15min的患者发生脑电图异常率明显高于初发年龄<6岁、发热温度>38.5℃、单纯性热性惊厥、全身发作和无EP家族史以及24h内发作1次与持续时间<15min的患者（P<0.05）；脑电图异常的发作状态和是否热性惊厥家族史的资料比较无明显差异（P>0.05）。见表1。

表1 脑电图异常与临床特征的相关性分析[n（%）]

2.3脑电图异常日后癫痫与临床特征的相关分析

通过对46例脑电图异常患者的临床资料分析，共有35例日后发生癫痫，发生率为76.1%。其中初发年龄≥6岁、发作类型复杂、枕区和额区放电患者发生癫痫几率明显高于初发年龄<6岁、发作类型单纯、广泛性区、Rolandic区患者，数据的比较具有明显的差异（P<0.05）；有热性惊厥家族史、有EP家族史和持续时间≥15min与无热性惊厥家族史、无EP家族史和持续时间<15min发生癫痫的几率比较无明显的差异（P>0.05）。见表2。

2.4不同放电部位与日后癫痫的相关性分析

对35例日后癫痫的脑电图特征分析，枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素，广泛性区、Rolandic区与日后癫痫发生无相关性。见表3。

表3 不同放电部位与日后癫痫的相关性分析

3讨论

热性惊厥是小儿中最常见的惊厥性疾病，在临床中具有较高的发病率。不少患儿日后出现癫痫，影响其正常的生活。临床中如何有效的加强该病的诊断和治疗是医师们的关注的重点。通过对脑电图异常率判断热性惊厥发作后是否癫痫是很困难的，主要是由于临床中在选取的病患和检查脑电图时间以及癫痫放电的判断标准均有不同[5]。脑电图对热性惊厥的评估有限，但是对于年龄较大的热性惊厥患者和伴有热性惊厥家族史以及复杂性的热性惊厥患者均有较高的特异性，并且其发生脑电图异常的情况明显增加[6]。因此如何加强热性惊厥患者日后是否癫痫诊断是医师们关注的重点。本文对热性惊厥患者的临床特征和脑电图特征进行分析，探讨其与日后癫痫的相关性，其目的是更好地对热性惊厥日后是否发生癫痫做出正确的判断[7]。

本次结果表明，热性惊厥患者脑电图正常率为64.1%；异常率为35.9%，数据比较无明显差异（P>0.05）。由此分析，临床中单纯的应用脑电图异常率很难对热性惊厥进行判断。通过脑电图异常与临床特征的相关性分析，初发年龄≥6岁、发热温度<38.5℃、复杂性热性惊厥、部分发作和伴有EP家族史以及24h内发作>1次与持续时间≥15min的热性惊厥患者发生脑电图异常率明显升高。因此，临床中应加强该热性惊厥患者的脑电图检查，可以通过检查脑电图异常率对其进行判断[8]。数据还显示，初发年龄≥6岁、发作类型复杂、枕区和额区放电患者发生癫痫几率明显的高于初发年龄<6岁、发作类型单纯、广泛性区、Rolandic区患者。因此临床中可以依据热性惊厥患者的临床特征和脑电图特征对其日后癫痫进行判断。复杂性的热性惊厥患者日后发生癫痫的几率明显高于单纯性的热性惊厥患者。并且复杂性热性惊厥患者脑电图异常率明显的高于单纯性的热性惊厥患者。进一步的分析表明，临床中脑电图异常是热性惊厥患者日后发生癫痫的危险因素[9]。枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素，明显高于其他区放电患者[10，11]。枕区和额区放电的脑电图异常患者日后发生癫痫的几率会明显的上升。同时临床研究显示，额叶是人体脑组织结构中发育最晚的结构，很容易表现为长时间的易感性，一旦刺激变化导致阵发性放电[12，13]。另外癫痫的发生与颞叶之间存在着密切的联系，由此得出枕区和额区阵发性放电与癫痫的发生存在着密切的联系[14，15]。

综上所述，热性惊厥患者的临床特征呈现多样性，加强临床特征和脑电图特征的检测能够有效地对日后癫痫发生进行判断，并且提示枕区和额区阵发性异常放电的热性惊厥患者日后更容易发生癫痫[16-18]，临床中应引起足够的重视。

[参考文献]

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[18] 韦爱玲，韩蕴丽，周银娥. 小儿热性惊厥106例临床分析[J]. 广西医学，2013，35（5）：114-116.

（收稿日期：2013-11-20）

本次结果表明，热性惊厥患者脑电图正常率为64.1%；异常率为35.9%，数据比较无明显差异（P>0.05）。由此分析，临床中单纯的应用脑电图异常率很难对热性惊厥进行判断。通过脑电图异常与临床特征的相关性分析，初发年龄≥6岁、发热温度<38.5℃、复杂性热性惊厥、部分发作和伴有EP家族史以及24h内发作>1次与持续时间≥15min的热性惊厥患者发生脑电图异常率明显升高。因此，临床中应加强该热性惊厥患者的脑电图检查，可以通过检查脑电图异常率对其进行判断[8]。数据还显示，初发年龄≥6岁、发作类型复杂、枕区和额区放电患者发生癫痫几率明显的高于初发年龄<6岁、发作类型单纯、广泛性区、Rolandic区患者。因此临床中可以依据热性惊厥患者的临床特征和脑电图特征对其日后癫痫进行判断。复杂性的热性惊厥患者日后发生癫痫的几率明显高于单纯性的热性惊厥患者。并且复杂性热性惊厥患者脑电图异常率明显的高于单纯性的热性惊厥患者。进一步的分析表明，临床中脑电图异常是热性惊厥患者日后发生癫痫的危险因素[9]。枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素，明显高于其他区放电患者[10，11]。枕区和额区放电的脑电图异常患者日后发生癫痫的几率会明显的上升。同时临床研究显示，额叶是人体脑组织结构中发育最晚的结构，很容易表现为长时间的易感性，一旦刺激变化导致阵发性放电[12，13]。另外癫痫的发生与颞叶之间存在着密切的联系，由此得出枕区和额区阵发性放电与癫痫的发生存在着密切的联系[14，15]。

综上所述，热性惊厥患者的临床特征呈现多样性，加强临床特征和脑电图特征的检测能够有效地对日后癫痫发生进行判断，并且提示枕区和额区阵发性异常放电的热性惊厥患者日后更容易发生癫痫[16-18]，临床中应引起足够的重视。

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[18] 韦爱玲，韩蕴丽，周银娥. 小儿热性惊厥106例临床分析[J]. 广西医学，2013，35（5）：114-116.

（收稿日期：2013-11-20）

本次结果表明，热性惊厥患者脑电图正常率为64.1%；异常率为35.9%，数据比较无明显差异（P>0.05）。由此分析，临床中单纯的应用脑电图异常率很难对热性惊厥进行判断。通过脑电图异常与临床特征的相关性分析，初发年龄≥6岁、发热温度<38.5℃、复杂性热性惊厥、部分发作和伴有EP家族史以及24h内发作>1次与持续时间≥15min的热性惊厥患者发生脑电图异常率明显升高。因此，临床中应加强该热性惊厥患者的脑电图检查，可以通过检查脑电图异常率对其进行判断[8]。数据还显示，初发年龄≥6岁、发作类型复杂、枕区和额区放电患者发生癫痫几率明显的高于初发年龄<6岁、发作类型单纯、广泛性区、Rolandic区患者。因此临床中可以依据热性惊厥患者的临床特征和脑电图特征对其日后癫痫进行判断。复杂性的热性惊厥患者日后发生癫痫的几率明显高于单纯性的热性惊厥患者。并且复杂性热性惊厥患者脑电图异常率明显的高于单纯性的热性惊厥患者。进一步的分析表明，临床中脑电图异常是热性惊厥患者日后发生癫痫的危险因素[9]。枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素，明显高于其他区放电患者[10，11]。枕区和额区放电的脑电图异常患者日后发生癫痫的几率会明显的上升。同时临床研究显示，额叶是人体脑组织结构中发育最晚的结构，很容易表现为长时间的易感性，一旦刺激变化导致阵发性放电[12，13]。另外癫痫的发生与颞叶之间存在着密切的联系，由此得出枕区和额区阵发性放电与癫痫的发生存在着密切的联系[14，15]。

综上所述，热性惊厥患者的临床特征呈现多样性，加强临床特征和脑电图特征的检测能够有效地对日后癫痫发生进行判断，并且提示枕区和额区阵发性异常放电的热性惊厥患者日后更容易发生癫痫[16-18]，临床中应引起足够的重视。

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[13] 曹阳，张国英. 脑电图在儿童热性惊厥中的应用与分析[J]. 现代电生理学杂志，2009，16（1）：15-23.

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[16] 李步云. 小儿热性惊厥复发相关因素的临床探讨[J]. 当代医学，2013，19（21）：91-92.

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[18] 韦爱玲，韩蕴丽，周银娥. 小儿热性惊厥106例临床分析[J]. 广西医学，2013，35（5）：114-116.

（收稿日期：2013-11-20）