李希明， 李文军， 顾喆涵， 周 恩， 章龙飞

（中国计量学院，浙江杭州 310018）

在中低温条件下环境辐射对光谱发射率测量的影响

李希明， 李文军， 顾喆涵， 周 恩， 章龙飞

（中国计量学院，浙江杭州 310018）

讨论了有效光谱发射率和有效亮度温度的概念。介绍了光谱发射率的测量方法及测量装置。在考虑到环境辐射的情况下，给出了光谱发射率的计算方程，指出中低温条件下的光谱发射率测量必须考虑环境辐射的影响，否则会出现较大的误差。

计量学；有效光谱发射率；有效亮度温度；环境辐射；黑体空腔

1 引 言

在材料科学中，发射率是一个表征材料表面热辐射特性的重要参数，在军事、能源、冶金、纺织等领域均有广泛的应用。在辐射测温中，发射率尤其是光谱发射率的测量占有特殊的位置，因为它是获得有效准确的温度测量结果的基础。因此，发射率测量是辐射测温学的主要研究内容之一。

光谱发射率是一个相当复杂的参数，受到众多因素的影响。它不仅与波长和温度有关，还与材料表面状况、发射角以及辐射的偏振状态有关。当被测对象或样品已确定的情况下，则需要研究它与波长及温度的关系。

随着辐射测温向中低温特别是300℃以下方向拓展，环境辐射对光谱发射率测量的影响逐步显现出来。温度越低，影响越大。目前，环境辐射的影响已成为辐射测温的研究热点，它对于准确地确定温度量值具有重要意义［1］。

鉴于环境辐射的引入，辐射测温学中的某些理论概念需要深入讨论并赋予更加全面的含义。……