李文臣，温冬梅

(1.吉化集团吉林市锦江油化厂，吉林 吉林 132021；2.中国石油吉林石化公司 研究院,吉林 吉林 132021)

扫描电镜(SEM)是利用聚焦电子束在样品上扫描时激发的某些物理信号(例如二次电子)而成像，从而观测物质的形貌、组成、晶体结构、电子结构等。近年来，扫描电镜以其分辨率高、景深大、可连续放大到几万倍等优点，被广泛应用于高分子材料的微观形态结构研究。用SEM观察高分子材料的表面形态和微观结构，在一定程度上能获得一些更为直观的信息，而且由于扫描电镜景深大，因此所得扫描电子图像非常富有立体感，具有三维形态，所显示的样品形貌从深层次、高景深的角度呈现材料的本质，在研究高分子材料的性能和机理方面有着不可替代的作用，也是各种材料性能分析以及工艺过程合理性判定的一个强有力的手段[1-3]。

1 实验部分

1.1 原料

聚乙烯(PE)薄膜：中国石油吉林石化公司研究院提供；丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物(ABS)：中国石油吉林石化公司合成树脂厂提供；液氮：中国石油吉林石化公司研究院提供；丙酮试剂：中国石油吉林石化公司研究院提供。

1.2 主要仪器

S-3000N型扫描电子显微镜：日本日立公司；E1010离子溅射仪：日本日立公司。

1.3 试样制备

首先，一般情况下，高分子材料的硬度较低，柔韧性好，不容易获得易于观察的断口截面，所以要对样品进行处理，制成易于用电镜测试的样品。常用的制样方法有2种，一种是液氮冷冻法，将样品放入液氮中冷冻使其变脆，再将其断裂，制成大小合适的小薄片，将断裂面朝上，固定于样品台上；……