李 星，谭 麟

（1.中国电子科学研究院，北京 100041； 2.空军驻京昌地区军事代表室 北京 100041）

大型复杂电子系统可靠性增长方法探讨

李 星，谭 麟

（1.中国电子科学研究院，北京 100041； 2.空军驻京昌地区军事代表室 北京 100041）

本文论述了基于紧缩系统开展大型复杂电子系统可靠性增长工作的试验及评估方法。可以依照AMSAA模型对紧缩系统可靠性增长试验进行评估，计算所得的MTBF考虑紧缩系统与全系统关系后，即可得对全系统可靠性进行估算。在综合应力下对系统性能功能进行考核、验证的同时，有效提高了全系统评估精度，更贴近工程实际。

大型复杂电子系统；紧缩系统；可靠性增长

引言

随着我军现代化、网络化、信息化武器装备的发展，武器装备的组成结构、功能越来越复杂，信息化程度越来越高，大型电子系统在现代化武器装备中被广泛应用。实践表明，可靠性增长试验一直是提高电子产品可靠性的重要途径，但对于大型电子系统，单纯的增长试验往往需要耗费大量的资源。一是由于其本身体积庞大，试验技术复杂，目前国内没有相应的试验设备能够满足其进行可靠性试验的需求。如：如某大型电子系统需要试验设施容积在90m3以上，加上连接电缆、冷却系统等所需100m3以上的试验设备（试验箱），而我国当前最大的试验箱仅为40m3，远不能满足试验需求；另外，由于组成系统的设备可靠性指标高，平均故障时间（MTBF）高达数千小时以上（单台/套），且采购数量又少，如果采用新研设备全数试验方法，即传统试验方法，不仅试验时间长，单是试验件的投入及试验费用也是难于承受的。……