马月红，张　芳

(军械工程学院电子与光学工程系，河北石家庄　050003)

0　引言

电子装备结构日益复杂，工作环境日益严酷，对电子装备的可靠性提出更高要求，基于加速试验的可靠性分析方法成为高可靠、长寿命产品进行可靠性分析的重要途径。在各种外界环境下，电子装备可靠性除与温度应力有关外，还与电应力有密切关系[1]。例如交流电引起电容承受电压能力退化，最终导致其短路；瞬时大电流和纹波电压引起液体钽电解电容失效；电源纹波引起模拟电路信号波形发生畸变失真，信噪比变差，甚至完全淹没信号；电源纹波也可能使数字电路误码率上升，逻辑电平紊乱，信息系统的可靠性降低，极端情况下将导致失控或误操作。目前已开展的加速试验大多针对电子器件，且加速应力类型单一，导致复杂环境下电子装备可靠性试验数据匮乏，基于加速试验数据进行可靠性分析出现困难。因此选取合适的试验对象并开展器件级以上电子产品加速试验和可靠性评估具有重要的现实意义。

1　电应力加速试验实现

图1为不同纹波电压应力的硬件框图。

对典型雷达装备进行分析，发现其多由各种放大器电路、射随电路、滤波电路、各种振荡电路等基础功能电路组成。因此加速试验以雷达系统某信号产生及放大电路为研究对象，开展电应力加速试验。由于电子器件接入功能电路后，其失效规律不仅表现出静态时的失效规律，而且有特有的失效规律。……